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PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀(jì)90年代），圍繞原位電學(xué)測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產(chǎn)品覆蓋國內(nèi)原位電鏡市場的同時也遠(yuǎn)銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。

PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學(xué)測量樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

技術(shù)指標(biāo)

電學(xué)測量	力學(xué)操縱
1.包含一個電流電壓測試單元；	1.探針粗細(xì)調(diào)方式：全軟件操控；
2.電流測量范圍：1nA-30mA；	2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；
3.電流分辨率：100fA；	3.細(xì)調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um；
4.電壓輸出范圍：±10V，±150V；	4.細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；
5.軟件自動測量：I-V、I-t