SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的先進(jìn)設(shè)備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進(jìn)行觀察和分析的需求，同時(shí)確保樣品能夠保持...
SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精...
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加...
原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進(jìn)行原位測量而設(shè)計(jì)。該系列產(chǎn)品通過在標(biāo)...
冷凍樣品臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術(shù)，溫度范圍：-160℃至80℃。
液體樣品臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺，基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。
原位加熱臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。
納米探針臺 參考價(jià)：面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn)，...
納米力學(xué)臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。
加熱拉伸臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
多樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損。
原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍討B(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基...
三維重構(gòu)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿，基于樣品端超薄設(shè)計(jì)，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡...
原位多場耦合樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究...
原位力學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測量功能，對樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線，支持力-電同時(shí)測量。
原位電學(xué)測量樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀(jì)90年代），圍繞原位電學(xué)測量樣品桿，澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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