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Apollo-原位光學(xué)樣品桿
  • Apollo-原位光學(xué)樣品桿
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貨物所在地:北京北京市

地: 北京

更新時間:2025-05-27 21:00:08

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PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),樣品桿內(nèi)集成光纖,桿末端可外接光源或光譜儀,實現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究。

PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,同時集成光纖單元,可外接光源或光譜儀,開展光電測量及光譜學(xué)分析,大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

 

技術(shù)指標(biāo)

 

電學(xué)測量 光纖指標(biāo)
1.包含一個電流電壓測試單元; 1.芯徑可選,外徑250um;
2.電流測量范圍:1nA-30mA; 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選;
3.電流分辨率:100fA; 3.光纖快拆接口:SMA、FC等;
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; 4.光源可選:4波段半導(dǎo)體激光器、波長連續(xù)可調(diào)氙燈光源;
5.軟件自動測量:I-V、I-t 5.光譜儀:根據(jù)用戶具體需求匹配

 

zhangchao nanoletter.png

 

Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy

doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796

Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679

 

產(chǎn)品選型


原位光學(xué)樣品桿  具有單傾、雙傾兩個版本,用戶可根據(jù)實際實驗需求自行選擇。

澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學(xué)樣品桿,同時保證透射電鏡原有分辨率。

 

國內(nèi)部分用戶


 

 

典型案例

 

1、透射電鏡內(nèi)的原位光電測量實驗;

2、透射電鏡內(nèi)的陰極發(fā)光(CL)實驗;

3、透射電鏡內(nèi)的原位電致發(fā)光譜實驗。

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