原位加熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺(tái)基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。
納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
SEM納米探針臺(tái)由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺(tái)不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn)，...
納米力學(xué)臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。
加熱拉伸臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
多樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品，提高測(cè)試效率，減少頻繁插拔樣品桿對(duì)測(cè)角臺(tái)的磨損。
原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍?dòng)態(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基...
TEM-STM樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測(cè)量工具，為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...
三維重構(gòu)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿，基于樣品端超薄設(shè)計(jì)，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測(cè)試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡...
原位多場(chǎng)耦合樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過(guò)更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過(guò)更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測(cè)量或光譜學(xué)表征研究...
原位力學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測(cè)量功能，對(duì)樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過(guò)程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線，支持力-電同時(shí)測(cè)量。
臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡(jiǎn)便，安裝無(wú)需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
原位電學(xué)測(cè)量樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測(cè)量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀(jì)90年代），圍繞原位電學(xué)測(cè)量樣品桿，澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電...
臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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