原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進(jìn)行原位測量而設(shè)計(jì)。該系列產(chǎn)品通過在標(biāo)...
多樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對(duì)測角臺(tái)的磨損。
原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍?dòng)態(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基...
TEM-STM樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...
三維重構(gòu)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿，基于樣品端超薄設(shè)計(jì)，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價(jià)：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡...
原位多場耦合樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究...
原位力學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測量功能，對(duì)樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線，支持力-電同時(shí)測量。
原位電學(xué)測量樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀(jì)90年代），圍繞原位電學(xué)測量樣品桿，澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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