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大塚OTSUKA紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

來源:美薩科技(蘇州)有限公司   2025年05月30日 11:03  
大塚OTSUKA紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
  大塚電子株式會社主要經(jīng)營范圍:光電技術(shù)的研發(fā),光電系統(tǒng)集成產(chǎn)品、工業(yè)測定和分析設(shè)備、儀器儀表及相關(guān)零部件的批發(fā)、進出口等。大豕為人類更健康而不斷**,懷著「多樣性」「**性」「世界化」的愿景,不斷的推出**產(chǎn)品,面向全球開展業(yè)務(wù),為社會作出貢獻。以高速·高精度·高可靠性目有市場實際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ), 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例,為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面,對***研究機構(gòu)、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
 
  分光光譜儀:高感度分光光譜儀 紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
 
  應(yīng)用范圍:
 
  發(fā)光光譜分析儀系統(tǒng)
 
  反射光譜分析儀系統(tǒng)
 
  穿透、吸收光譜分析儀系統(tǒng)
 
  色度光譜分析儀系統(tǒng)
 
  光源光譜分析儀系統(tǒng)(色度/輝度/照度)
 
  膜厚光譜分析儀系統(tǒng)
 
  董光光譜分析儀系統(tǒng)
 
  雙折射相位差光譜分析儀
 
  微光學(xué)元件光譜分析儀系統(tǒng)
 
  產(chǎn)品規(guī)格:
 
  分光光譜儀-2285C 分光光譜儀-3095C 分光光譜儀-3683C分光光譜儀-311C分光光譜儀-916C波長范圍 220~850nm 300~950nm 360~830nm 360~1100nm 900~1600nm分光系統(tǒng) 平面場型
 
  檢測單位 電子冷卻型CCD圖像傳感器 電子冷卻型InGaAs圖像傳感器
 
  512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch理論分辨率 1.4nm 0.7nm 1.4nm 0.7nm 1.0nm 0.5nm 1.6nm 0.8nm 1.9nm光纖規(guī)格 石英光纖、口徑φ12mm、長度約2m 摻鍺石英光纖、長度約2m
 
  星測功能 發(fā)光光譜量測、反射率光譜量測、穿透率光譜量測、吸收光譜量測尺寸重量 110(W)x230(H)x282(D)mm,約6kg
 
  產(chǎn)品特點:
 
  *高動態(tài)范圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品,*適用于量測光通量。*有效抑制雜散光,*適合UV光譜分析。相較于本公司歷代分光光度計,雜光率僅約五分之一*曝光時間5msec~65sec*。適用于量測微弱光源以及架設(shè)于生產(chǎn)線上即時檢測等多元應(yīng)用。"經(jīng)過特殊設(shè)計纏系統(tǒng)光纖,展現(xiàn)穩(wěn)定的重復(fù)再現(xiàn)性量測,*小巧輕量化的設(shè)計,相較于歷代機型,容積比約減少60%。
 
.
紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
 
  產(chǎn)品規(guī)格
 
  型號規(guī)格28C311C3593C
 
  波長范圍 220~800 nm 330~1100 nm 350~930 nm
 
  分光元件 全息成像光柵、F=3、f=135mm
 
  波長精度*1 ±0,3 nm>±0.5 nm ±0.3 nm
 
  感光元件*2 電子制冷型CCD影像感測器
 
  512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch解析能力 1.2nm 0.6nm 1.7nm 0.9nm 1.3nm 0.6nm
 
  曝光時間*3 20msec~20sec
 
  光纖規(guī)格 石英制光纖、固定口徑12mm、長約1m
 
  通訊介面 USB Or LAN
 
  尺寸重量 300(W)x170(H)x350(D)mm、約10kg
 
  *1 波長校正用光源對汞物理輝線之確認值
 
  *2 可選擇512ch或1024ch
 
  *3 感度設(shè)定為Normal時
 
  產(chǎn)品特點:
 
  *多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。
 
  *功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。
 
  采用更專業(yè)的CCD影像感測器,感光能力較MCPD-3700約高出200~700倍,在微弱光領(lǐng)域亦實現(xiàn)了20~30倍的高信噪比。
 
  **適用于低輝度(0.3cd/m2),如螢光、電漿發(fā)光等微弱光以及光源、顯示器量測。
 
  *搭配功能豐富的專用軟體,可進行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。
 
  可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時量測。
 
大塚OTSUKA紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
  三.膜厚儀:顯微分光膜厚儀 反射式厚量測儀 橢m 360~1100nm 900~1600nm膜厚量測儀 膜厚光譜分析儀系統(tǒng) 顯微分光障厚是狽
 
  儀
 
  應(yīng)用范圍:
 
  * FPD
 
  ·LCD、TFT、OLED(有機EL)
 
  * 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體
 
  ·矽ct time Measurement Time 1秒/1
 
  * 盜料儲存
 
  ·DVD、磁頭薄膜、磁性材料
 
  * 光學(xué)材料
 
  ·濾光片、抗反射膜
 
  *平面顯示器
 
  液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
 
  *薄膜
 
  ·AR膜
 
  *其它
 
  ·建筑用材料
 
  產(chǎn)品規(guī)格
 
  型號OP-A1OP-A2 OP-A3
 
  波長范圍 230~800nm 360~1100nm 900~1600nm
 
  膜厚范圍 1nm~35um 7nm~49um 16nm~92um
 
  樣品尺寸 Max.200mmx200mmx17mm
 
  點徑φp 5um(反射40倍鏡頭),改造后可達到3um
 
  tact time Measurement Time 1秒/1點
 
  尺寸本體(W555xD537xH559mm),控制單元(W500xD180xH288mm)功用750 VA
 
  *1上述式樣是帶有自動XY平臺。
 
  *2 release 時期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3預(yù)定2016年9月
 
  *3 膜厚范圍是Si02換算:
 
  產(chǎn)品特點:
 
  *膜厚測量中必要的功能集中于頭部,
 
  *通過顯微分光高精度測量**反射率(多層膜厚、光學(xué)常數(shù))
 
  *1點只需不到1秒的高速tact.
 
  *實現(xiàn)了顯微下廣測量波長范圍的光學(xué)系(紫外~近紅外)
 
  *通過區(qū)域傳感器控制的**構(gòu)造,
 
  *搭載可私人定制測量順序的強大功能。
 
  *即便是沒有經(jīng)驗的人也可輕松解析光學(xué)常數(shù),
 
  各種私人定制對應(yīng)(固定平臺,有嵌入式測試頭式樣)
 
四.反射式膜厚量測儀:
 
  產(chǎn)品規(guī)格:
 
  型號標(biāo)準型 厚膜專用型
 
  樣品大小*大200mmx200mmx7(厚度)mm
 
  可測層數(shù)
 
  膜厚范圍
 
  發(fā)寸
 
  1nm~40um 0.8um~210um 1um~240um 80um~1mm
 
  波長范圍190nm~760nm 230nm~800nm 330nm~1100nm430nm~970nm 750nm~850nm 900nm~1600nm 1490nm~1590nm
 
  測試單元
 
  CCD CCD CCD PDA PDAInGaAs InGaAs
 
  膜厚精度
 
  ±0.1nm(以NIST認證的標(biāo)準樣品為依據(jù))*2
 
  重復(fù)性精度(2.10)
 
  膜厚測試(Si基板上的SiO膜 100nm未滿:0.1nm*3
 
  100nm以上:0.07%
 
  反射率測試(Si基板)230nm~250nm:0.8%*4
 
  250nm~800nm:0.4%*4
 
  800nm~1050nm:0.8%*4
 
  測試光斑*5φ40um、p20um、10um、p6.6um、(p5um對物鏡頭反射式對物鏡頭倍數(shù):x10倍、x20倍、x30倍、x40倍
 
  折射式對物鏡頭(可視):x5倍、x10倍、x20倍
 
  測試光源D 2(紫外光)、12(可見光)、D2 + 2(紫外-可見光)
 
  XYZ stage自動stage 手動stage行程X:200mm、Y:250mm、Z:10mmX:200mm、Y:250mm、Z:10mm重復(fù)性精度2um<0.5um>
 
  驅(qū)動分辨率1um<0.1um>
 
  尺寸·重量481 (W)mmx770(H)mmx714(D)mm約96kg 427 (W)mmx770(H)mmx725(D)mm約88kg
 
  控制單元自動stage 手動stage尺寸·重量300(W)mmx710(H)mmx450(D)mm約34kg 300(W)mmx380 (H)mmx450(D)mm約18kg
 
  電源 規(guī)格AC100V+10V 750VA AC100V+10V 500VA
 
  軟件
 
  測試
 
  手動測試/連續(xù)測試/制圖測試(mapping)/測試與計算同步功能非線性*小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/*適化法
 
  解析
 
  基板解析/里面反射補正/各類nk解析模型式**反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長相關(guān)性/消光系數(shù)k的波長相關(guān)性3D顯示功能(面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖)系統(tǒng)維護材料文件構(gòu)建(database管理)、硬件的各種設(shè)定基官樣品對焦的數(shù)值顯示功能、自動對焦功能(自動stage有此功能)、內(nèi)部反射補正功能
 
  數(shù)據(jù)處理
 
  數(shù)據(jù)處理臺式電腦、顯示器、打印機
 
  *1具體請咨詢本公司。
 
  *2以VLSI公司的標(biāo)準樣品(100nm Si02/Si)范圍值保證書為依據(jù)。
 
  *3量測VLSI公司的標(biāo)準樣品(100nm Si02/Si)同一點位時之重復(fù)性。(2.1倍0)4具體參照相關(guān)保證書,
 
  5鏡頭為選配件,具體請咨詢本公司。
 

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