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YAMADA山田光學聚光燈YP-250I的詳細介紹：
產(chǎn)品概述
YAMADA山田光學聚光燈YP-250I是一種高亮度鹵素光源裝置，主要用于檢測半導體晶片、液晶基板等表面的劃痕、不均勻拋光、霧度、表面灰塵、滑移等各種缺陷。它提供了超過400,000 Lux的高亮度照明，能夠滿足宏觀觀察的照明需求。
產(chǎn)品特點
- 高亮度照明：照度范圍φ60，能夠提供超過400,000 Lux的高亮度。
- 穩(wěn)定的光源：采用鹵素燈作為光源，色溫為3,400K，色調(diào)為白色，減少了照明不均勻性。
- 冷卻系統(tǒng)：配備強制排氣冷卻方式，有效降低光源產(chǎn)生的熱量。
- 照射距離：照射距離為220mm。
- 光源壽命：光源壽命為35-50小時。
技術參數(shù)
表格
| 參數(shù) | 規(guī)格 |
|---|---|
| 照射范圍 | φ60 mm |
| 照度 | ≥ 400,000 Lux |
| 照射距離 | 220 mm |
| 光源類型 | 鹵素燈（使用冷鏡） |
| 燈型 | ELC24V250W |
| 壽命 | 35-50小時 |
| 色溫 | 3,400K |
| 色調(diào) | 白色 |
| 環(huán)境溫度 | 0～40℃ |
| 冷卻方式 | 強制排氣 |
| 尺寸 | 120(W)×388(H)×130(D) mm |
| 重量 | 約2.7 kg |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60Hz |
| 功率 | 約350W |
應用場景
YP-250I廣泛應用于以下領域：
- 半導體晶片檢測：用于檢查8英寸半導體晶片的表面缺陷。
- 液晶基板檢測：檢測液晶基板的劃痕、霧度等缺陷。
- 精密制造與品質(zhì)管控：適用于汽車零部件檢測、精密模具檢查、金屬表面處理評估等。
優(yōu)勢
- 高均勻性：通過冷鏡技術，減少熱影響，提高照明均勻性。
- 靈活切換：配備2級切換機構(gòu)，可以單觸切換高照度觀察和低照度觀察。
- 耐用設計：采用強制排氣冷卻系統(tǒng)，延長光源壽命。
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