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ESD/閂鎖試驗機臺/7000B系列產(chǎn)品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應(yīng)引腳組合測試、...

ESD測試機臺/1200系列本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試?？蓱?yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。

半導體閂鎖測試儀7000B產(chǎn)品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應(yīng)引腳組合測試、高達8kV...

日本半導體HBM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試?？蓱?yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。

日本HBM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應(yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。

日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列 CDM測試儀測試機臺陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗專用型號）●1100-CDM （CDM試驗專用型號）...

日本TET半導體ESD測試儀該系列測試機臺陣容有：●7000B-E（專用于ESD試驗）●7000B-L（專用于閂鎖試驗）●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗...

日本電子JEOL場發(fā)射透射電鏡F200是日本電子新一代多用途場發(fā)射透射電子顯微鏡，可以很好滿足當今用戶的多樣化需求。F2在保證高性能和滿足多樣化需求的同時采用了...

材料檢測服務(wù)SEM/TEM/FIB蔡司電鏡測試*請您知悉-若遇排期問題，測試人員將根據(jù)所提供的測試需求評估，調(diào)整性能符合的同類型空閑設(shè)備為您進行測試探測器詳情：...

蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可輕松實現(xiàn)構(gòu)...

高速攝像機FASTCAM MINI-UX產(chǎn)品簡介1280×1024像素4,000fps；拍攝速度200,000fps；1.5KG的輕化小型設(shè)計產(chǎn)品用途...

蔡司ZEISS 聚焦離子束電鏡Crossbeam系列無論是切割、成像或進行 3D 分析，Crossbeam 系列都能極大地提升您的應(yīng)用體驗。使用 Gemini ...

蔡司ZEISS 場發(fā)射掃描電鏡Gemini系列 這一名字代表著可以輕松實現(xiàn)亞納米級別高分辨率的成像技術(shù)，足以滿足您在面對高要求的材料和生命科學項目時的成像要求。...

手持式雙屏靜電放電發(fā)生器LONGPEAK：·IEC 61000-4-2·EN 61000-4-2·GB/T 17626.2...

恒溫恒濕試驗箱（分體式）EMKU愛沵庫：·控制系統(tǒng)制冷機組和試驗箱分開,通過保溫風管連接,按客戶要求定制箱體。·504L,其他尺寸可定制。&...

TSA系列冷熱沖擊試驗箱ESPEC愛斯佩克：溫度均勻性好，試驗精度高通過調(diào)風板可以進行風量、風速及風向的調(diào)整，保證空氣循環(huán)通暢。外加試樣表面溫度控制選購功能，可...

冷熱沖擊試驗箱EMKU愛沵庫：·設(shè)有高溫槽,低溫槽,內(nèi)部試驗籃將物品在高低溫槽之間移動,溫度沖擊時間可設(shè)定,提籃左右移動為臥式,上下移動為立式...

恒溫恒濕試驗箱EMKU愛沵庫——ETH系列：·制冷系統(tǒng)采用無氟環(huán)保制冷劑,壓縮機等關(guān)鍵部件采用進口國際品牌。·10英寸液晶觸摸控制器,定值和...

隆湃LONGPEAK 芯片級低壓雷擊浪涌發(fā)生器是模擬設(shè)備在不同環(huán)境與安裝條件下可能遭受的電力系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)干擾、雷電瞬態(tài)干擾。 當設(shè)備的電源線、輸入/輸出線，以及...

隆湃LONGPEAK 10Kv雷擊浪涌發(fā)生器是模擬設(shè)備在不同環(huán)境與安裝條件下可能遭受的電力系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)干擾、雷電瞬態(tài)干擾。 當設(shè)備的電源線、輸入/輸出線，以及通...