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會(huì)議伊始，賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析部門(mén)半導(dǎo)體業(yè)務(wù)商業(yè)副總裁朱雪雁女士首先發(fā)表了開(kāi)場(chǎng)致詞。她表示，賽默飛作為一家擁有40多年歷史的美國(guó)企業(yè)，始終秉持著開(kāi)放、合作的態(tài)度，熱情地面向中國(guó)企業(yè)。我們深知中國(guó)市場(chǎng)的重要性，并對(duì)其充滿信心。正因如此，賽默飛不斷加大在中國(guó)的投資力度，致力于更好地服務(wù)本地客戶。今天的活動(dòng)不僅是提供了一個(gè)展示與分享的機(jī)會(huì)，更是搭建了我們與京東方攜手共創(chuàng)、共同成長(zhǎng)的平臺(tái)。希望通過(guò)更深入的經(jīng)驗(yàn)交流，為大家?guī)?lái)啟發(fā)和收獲。

隨后，京東方開(kāi)發(fā)領(lǐng)導(dǎo)也表達(dá)了對(duì)賽默飛團(tuán)隊(duì)到來(lái)的歡迎。他說(shuō)，多年來(lái)，賽默飛憑借先進(jìn)的設(shè)備和優(yōu)秀的技術(shù)支持，為企業(yè)在研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中提供了重要幫助。同時(shí)，京東方也希望通過(guò)更多的專業(yè)培訓(xùn)，更充分地挖掘設(shè)備的潛力，放大其在生產(chǎn)和研發(fā)中的價(jià)值。希望未來(lái)京東方與賽默飛能加強(qiáng)溝通與交流，攜手攻克技術(shù)難題，共同探索創(chuàng)新解決方案。

緊隨其后的是各項(xiàng)報(bào)告議程。賽默飛PFA高級(jí)業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理曹瀟瀟首先帶來(lái)報(bào)告《助力顯示行業(yè)失效分析與研發(fā)創(chuàng)新——賽默飛PFA解決方案》。報(bào)告全面介紹了賽默飛在半導(dǎo)體領(lǐng)域的角色及其全流程解決方案，包括如何通過(guò)失效分析（FA）提升良率。展示了在顯示器件分析的應(yīng)用流程及關(guān)鍵產(chǎn)品，如Helios 5 Hydra、Metrios 6等。強(qiáng)調(diào)了TEM自動(dòng)化、精準(zhǔn)度及工作流優(yōu)化如何幫助客戶解決量測(cè)難題。報(bào)告全面呈現(xiàn)了賽默飛通過(guò)技術(shù)創(chuàng)新，推動(dòng)更快的數(shù)據(jù)處理、更復(fù)雜的3D結(jié)構(gòu)問(wèn)題解決以及更高的生產(chǎn)力，以應(yīng)對(duì)顯示面板行業(yè)的技術(shù)挑戰(zhàn)。

賽默飛TEM業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理章春陽(yáng)和PFA業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理?xiàng)罹S新攜手帶來(lái)了專業(yè)報(bào)告《探索OLED失效之謎——PFA分析技術(shù)與案例研究》。他們的報(bào)告聚焦面板行業(yè)在研發(fā)方面遇到的挑戰(zhàn)，對(duì)電子顯微學(xué)如何幫助解決面板行業(yè)的研發(fā)熱點(diǎn)問(wèn)題進(jìn)行了深入探討，并結(jié)合顯示面板行業(yè)常見(jiàn)的失效案例分享，展示賽默飛在物性失效分析的解決方案，如Apreo 2 SEM，Helios 5 系列的Ga+ FIB， PFIB/Hydra和Talos TEM等，詳細(xì)講解了這些設(shè)備如何幫助客戶解決包括在TFT背板、TFE封裝層、OLED有機(jī)發(fā)光層、柔性顯示等領(lǐng)域面臨的失效分析問(wèn)題，幫助推動(dòng)顯示行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新及良率提升。

最后，賽默飛EFA高級(jí)業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀為京東方同仁們分享了《電性失效定位在FPD中的應(yīng)用》。報(bào)告中唐經(jīng)理重點(diǎn)介紹了賽默飛的半導(dǎo)體電性失效分析（EFA）設(shè)備在平板顯示（FPD）領(lǐng)域的專業(yè)解決方案和技術(shù)特點(diǎn)。ELITE設(shè)備憑借高靈敏度的鎖相熱成像技術(shù)，可快速精準(zhǔn)定位IC、FPC線路、觸控面板等模塊的電性失效。其InSb相機(jī)具備高分辨率、廣視野和快速成像能力，提升故障定位效率和準(zhǔn)確性。Meridian S系統(tǒng)通過(guò)EMMI/OBIRCH技術(shù)實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位樣品漏電位置。納米探針系統(tǒng)nProber IV采用SEM成像平臺(tái)，搭載8根納米探針完成最小單元電性表征和失效分析。

賽默飛的綜合EFA解決方案有效提升了FPD領(lǐng)域的故障診斷效率和成功率。