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鋰（Li）鈹（Be）等關(guān)鍵稀有金屬作為“戰(zhàn)略金屬”，在航空航天、可充電電池等新興技術(shù)領(lǐng)域占據(jù)著不可替代的地位，屬于“被卡脖子”緊缺資源，亟需重點(diǎn)關(guān)注（翟明國等,2019）。花崗偉晶巖型鋰鈹?shù)V床作為鋰鈹...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容（《碳化硅功率器件：特性、測(cè)試和應(yīng)用技術(shù)—第2版》一書）近年來，隨著國家針對(duì)集成電路產(chǎn)業(yè)的大力政策扶持，以及新能源汽車等行業(yè)的爆發(fā)式增長(zhǎng)，碳化硅相關(guān)集成電路產(chǎn)業(yè)迎來了迅速崛起，市場(chǎng)規(guī)模及市場(chǎng)需求逐年遞...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容隨著我國在新材料、新能源、半導(dǎo)體等戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)的跨越式發(fā)展，表征技術(shù)的創(chuàng)新已成為突破基礎(chǔ)研究瓶頸的關(guān)鍵支撐。作為21世紀(jì)微觀分析領(lǐng)域的里程碑式突破，球差校正透射電子顯微鏡（Cs-coredtedTEM...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容原子級(jí)解析分子間相互作用對(duì)揭示催化反應(yīng)路徑、材料界面行為和生物分子識(shí)別機(jī)制等方面起著至關(guān)重要的作用，但其發(fā)展長(zhǎng)期受制于分子無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)與電子輻照損傷。盡管目前有多種限域策略可暫時(shí)穩(wěn)定小分子構(gòu)象，如通過...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容單一手性碳納米管范德華晶體近日，上海交通大學(xué)物理與天文學(xué)院史志文教授、梁齊教授與合作者在《Science》上發(fā)表題為“HomochiralcarbonnanotubevanderWaalscrysta...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容2025年，新型電池行業(yè)正迎來歷史性的發(fā)展機(jī)遇政策層面工信部明確將深入實(shí)施鋰電池行業(yè)規(guī)范條件，強(qiáng)化技術(shù)升級(jí)與安全管理，推動(dòng)新型儲(chǔ)能高質(zhì)量發(fā)展。同時(shí)，《新型儲(chǔ)能制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展行動(dòng)方案》進(jìn)一步聚焦鋰電池...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容AI技術(shù)正迎來歷史性的飛躍，推動(dòng)全球范圍的技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)變革。在這一進(jìn)程中，大規(guī)模AI智能模型的推出成為了一項(xiàng)突破性進(jìn)展。其中一些模型通過顯著提升推理性能，使國產(chǎn)芯片在推理階段逐步追趕甚至超越國際前列...
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體電鏡vEM技術(shù)近年因《Nature》的點(diǎn)名備受關(guān)注，因其正重新定義生命科學(xué)研究的尺度邊界。傳統(tǒng)電子顯微鏡雖具備納米級(jí)分辨率，但數(shù)據(jù)多為二維結(jié)構(gòu)。vEM通過連續(xù)片層掃描與三維重構(gòu)算法的結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)生...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容摘要：嫦娥6號(hào)月壤樣品是在月球背面采集到的樣品，它位于SPA（南極-艾特肯）盆地，有望為研究月幔物質(zhì)和月壤大撞擊改造提供參考。在新返回的嫦娥6號(hào)月壤的撞擊玻璃中，中國科學(xué)院地球化學(xué)研究所-云南大學(xué)研究...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容近日，來自中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所和上海交通大學(xué)的朱敏教授團(tuán)隊(duì)在材料科學(xué)頭部期刊《AdvancedFunctionalMaterials》上發(fā)表了一項(xiàng)重要研究成果。該論文題為“Volatile...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容微米和納米鈣鈦礦LED浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院/海寧國際聯(lián)合學(xué)院狄大衛(wèi)教授和趙保丹研究員團(tuán)隊(duì)研發(fā)的微米和納米鈣鈦礦LED（micro-PeLED和nano-PeLED）達(dá)到了傳統(tǒng)LED難以觸及的——...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡的強(qiáng)大晶體學(xué)分析工具，可用于晶粒取向鑒定、相鑒定、晶界識(shí)別、織構(gòu)分析、應(yīng)力和應(yīng)變分析，晶粒大小和形態(tài)分析，動(dòng)態(tài)過程研究，三維晶體分析等?，F(xiàn)代EBS...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容2025年SEMICONChina展覽會(huì)于2025年3月26日-28日在上海新國際博覽中心圓滿落幕。此次SEMICONChina匯聚了眾多行業(yè)專家及產(chǎn)業(yè)鏈上下游代表，共同探討半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)格局與市場(chǎng)發(fā)展趨...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容在科技飛速發(fā)展的今天，人工智能（AI）與電子顯微鏡（EM）的結(jié)合正在為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用帶來變革。讓我們帶你走進(jìn)AI與電子顯微鏡相遇的奇妙世界，探索它們?nèi)绾蜗嗷ベx能，推動(dòng)多個(gè)領(lǐng)域的突破性進(jìn)展。電子顯微...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容深度學(xué)習(xí)助力原位透射電鏡表征，揭示納米粒子表面動(dòng)態(tài)與不穩(wěn)定性近日，亞利桑那州立大學(xué)（ArizonaStateUniversity）PeterA.Crozier團(tuán)隊(duì)與紐約大學(xué)（NewYorkUniver...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容傳統(tǒng)技術(shù)的瓶頸與挑戰(zhàn)在納米材料研究領(lǐng)域，透射電子顯微鏡(S/TEM)與能譜(EDS)的結(jié)合一直是解析材料成分與結(jié)構(gòu)的“黃金搭檔”。然而，傳統(tǒng)方法需對(duì)整個(gè)樣品區(qū)域進(jìn)行全面掃描，可能耗時(shí)長(zhǎng)達(dá)數(shù)十小時(shí)，甚至...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容2025年3月25日，2025年版《中國藥典》正式發(fā)布。該版藥典第一次將“掃描電子顯微鏡法”這樣一種常用的、先進(jìn)的微觀表征分析技術(shù)納入，闡述其檢測(cè)原理、樣品制備及檢測(cè)方法等，以擴(kuò)大其在藥品研發(fā)和藥品質(zhì)...
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