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貨物所在地：北京北京市
所在地： 北京
更新時間：2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位加熱/電學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
技術指標
| 電學測量 | 加熱控溫 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.溫度范圍：室溫至1200℃； |
| 2.電壓輸出：Max ±200V， Min ±5 uV； | 2.加熱功率：Max 30W； |
| 3.電流測量：Max ±1.5 A， Min ±100fA； | 3.控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1℃； |
| 4.恒壓或恒流模式 | 4.PID/Pulse/Manual三種控溫方式； |
| 5.軟件控制，數(shù)據(jù)自動保存。 | 5.軟件控制，數(shù)據(jù)自動保存。 |
產(chǎn)品選型
原位加熱/電學樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，電極數(shù)可選；同時可拓展真空轉(zhuǎn)移芯片桿、低溫芯片桿，用戶可根據(jù)實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號芯片式樣品桿，支持定制。
國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位加熱實驗；
2、透射電鏡內(nèi)的原位加電實驗（可選針對敏感樣品的真空轉(zhuǎn)移方案）；
3、透射電鏡內(nèi)的原位熱電耦合實驗；
4、透射電鏡內(nèi)的低溫電學實驗；
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