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貨物所在地：北京北京市
所在地： 北京
更新時(shí)間：2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 加熱拉伸樣品臺(tái) 是研究材料微觀變形行為的重要工具，通過軟件設(shè)定載荷、拉伸速率及溫度，結(jié)合掃描電鏡大景深、高分辨的優(yōu)勢(shì)，可開展多種微觀力學(xué)實(shí)驗(yàn)。
技術(shù)指標(biāo)
| 力加載指標(biāo) | 加熱控溫 |
| 1.載荷大小：0-5000N； | 1.溫度范圍：室溫至600℃（800℃/1000℃可選）； |
| 2.載荷精度：±0.2%； | 2.控溫精度：±0.1℃； |
| 3.加載速率：0.1um/s--50um/s； | 3.軟件控制； |
| 4.位移量：0-30mm； | 其他 |
| 5.位移精度：20nm； | 1. 數(shù)據(jù)：力-位移曲線等； |
| 6.加載模式：拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲 | 2. 長(zhǎng)/寬/高: 170mm/110mm/52mm; |
| 7.匹配EBSD原位測(cè)量 | 3. 拉伸臺(tái)重量：1.6kg； |
| 8.軟件控制； | 4. 加熱器重量：0.2kg； |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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