OmniScan X3 64奧林巴斯OLYMPUS相控陣探傷儀

提前確認TFM（全聚焦方式）聲波覆蓋范圍

聲學影響圖（AIM）工具可以基于您的TFM（全聚焦方式）模式、探頭、設置和模擬反射體，即時提供靈敏度的可視化模型。

聲學影響圖（AIM）工具消除了掃查計劃創(chuàng)建過程中的猜測因素，因為屏幕上會顯示某個聲波組（TFM模式）的效果圖，使您看到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行相應的調整。

最多顯示4種TFM模式，方便了缺陷的解讀和定量

在同一個檢測中使用不同的TFM（全聚焦方式）模式（聲波組），使您更有希望探測到方向不規(guī)則的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，從而使您看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應和特征，如：端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面，可被綜合在一起進行分析，從而可以確認缺陷類型，并提高缺陷定量性能。

使用內置工具簡化您的NDT（無損檢測）工作流程

1. 掃查計劃

執(zhí)行步驟 1、2、3，在儀器上設置您的檢測

2. 校準

使用內置工具進行*合規(guī)的校準

3. 采集

在檢測過程中查看實時掃查結果

4. 分析

快速而自信地解讀您的數(shù)據(jù)

實時TFM（全聚焦方式）包絡處理

簡化了缺陷的表征和定量

儀器*的包絡處理功能可以生成高分辨率的TFM（全聚焦方式）圖像。圖中的信號指示干凈、清晰，在背景噪聲的襯托下，顯得更加鮮明突出。最多可顯示4種TFM（全聚焦方式）圖像，有助于缺陷的解讀和定量。

當精確度至關重要時

在更低的頻率和更寬的帶寬上清晰地觀察

1. 與32通道型號相比，64通道型號可在更寬的帶寬上為更高和更低的頻率提供更高的信噪比（SNR）。

2. OmniScan X3 64探傷儀能夠使用更大的脈沖寬度驅動更低的頻率，可為復合材料等衰減性較強的材料提供更好的信號分辨率。

3. 在C掃描中，64通道型號的更高分辨率和信噪比能夠更精細地顯示更多的特征，可使您在需要時獲得更高的精確度。

OmniScan X3 64奧林巴斯OLYMPUS相控陣探傷儀技術參數(shù)：