回收Photonic lattice WPA-200雙折射應(yīng)力儀

產(chǎn)品簡介

  WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，雙折射測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為光學(xué)測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器，用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

WPA-200相位差檢測儀特點(diǎn)

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

WPA-200相位差檢測儀主要應(yīng)用

光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石）

有機(jī)材料（球晶、FishEve）

參數(shù)指標(biāo)

回收Photonic lattice WPA-200雙折射應(yīng)力儀