維修WPA-200薄膜相位差方向軸檢測儀

WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，測量技術(shù)，使其成為*的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200主要特點:

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤCamera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

• 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

• 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

• 維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。

• 市場覆蓋率較高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。

主要應(yīng)用：

·光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

·透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

·透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

·透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石）

·有機材料（球晶、FishEve）

技術(shù)參數(shù)：

                                         一站式維修WPA-200大尺寸方向軸分布測試儀