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RTD Wafer-晶圓有線測溫系統
  • RTD Wafer-晶圓有線測溫系統
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2024-07-30 16:30:59

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RTD Wafer 晶圓有線測溫系統
儀表化晶圓(熱電偶或RTD)適用于半導體加工設備,在這些設備中,了解和控制晶圓表面的溫度至關重要。

RTD Wafer 晶圓有線測溫系統

儀表化晶圓(熱電偶或RTD)適用于半導體加工設備,在這些設備中,了解和控制晶圓表面的溫度至關重要。

RTD Wafer 晶圓有線測溫系統

測溫范圍:-40℃至250℃

電阻器:薄膜鉑

電阻:0°C時標稱電阻值為1000 Q

精度:±0.1℃

測溫點數:1~68個

傳感器引線:可定制

可提供絕緣:聚酰亞胺涂覆的銅引線

測溫探頭接口:DB37

晶圓材質:硅片,藍寶石,碳化硅等(基材形狀和尺寸可定制)

晶圓尺寸:50mm,100mm,150mm,200mm,300mm

真空貫通帶:聚酰亞胺扁平電纜,大氣壓可達10-7Torr(長度由客戶定)



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