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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池 |
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
高場(chǎng)寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng)
高場(chǎng)寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng)當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測(cè)量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對(duì)于加載的電場(chǎng)具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。
非線性介電響應(yīng)：
-當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測(cè)量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對(duì)于加載的電場(chǎng)具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。
-在很多應(yīng)用中，例如電容器和驅(qū)動(dòng)器，介電層>10V/um或者100V/um的高電場(chǎng)下工作，它們的有效介電常數(shù)和損耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析儀的測(cè)量值@1Vrms。
-在介電測(cè)試過程中直接加載一個(gè)高壓信號(hào)，如果樣品突然發(fā)生介電擊穿，這對(duì)于昂貴的LCR Meter有很大的損壞風(fēng)險(xiǎn)。
因此美國(guó)Polyk Technologies公司研發(fā)了此款寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng)，有效的避免了上述問題的發(fā)生。
高場(chǎng)寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng)
技術(shù)規(guī)格：
1）大電壓：±4000V；
2）大電流：±20mA；
3）頻率范圍：100Hz to 1MHz；
4）電容范圍：100pF to 100nF；
5）溫度范圍：-184℃ to 250℃；
6）溫度控制腔室：-75℃ to 200℃；（可選）
7）溫度控制腔室：室溫 to 1000℃；（可選）
8）寬頻范圍：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(與配備的阻抗分析儀相關(guān));（可選）
9）Large AC信號(hào)單元；（可選）
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