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NANYTE BEAM臺(tái)式無掩模光刻機(jī)/
激光光束分析儀是用于測(cè)量激光光束直徑、形
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日本進(jìn)口大面積LED太陽光模擬器，有效光

新品發(fā)布！kSA XRF在線X射線熒光膜厚測(cè)量?jī)x

閱讀：2001 發(fā)布時(shí)間：2022/12/28

近期我司推出最新產(chǎn)品，kSA XRF在線X射線熒光膜厚測(cè)量?jī)x！對(duì)于膜層厚度太薄的金屬薄膜和介電薄膜，光學(xué)方法測(cè)量其厚度顯得不是很可靠。kSA XRF在線X射線熒光膜厚測(cè)量?jī)x的推出主要就是為了解決該問題，它可以在線測(cè)量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。

設(shè)

備

詳

情

1.配備保護(hù)性定制框架外殼，放置 X 射線源和探測(cè)器。

2.該設(shè)備橋接了傳輸線，以便于設(shè)備安裝和工廠用戶對(duì)系統(tǒng)的訪問。

3.當(dāng) X 射線源正在使用時(shí)，會(huì)有警示燈閃爍提示。

4.配備面板的前/后邊緣光電檢測(cè)器，用于觸發(fā)設(shè)備自動(dòng)啟停。

5.柜式控制器提供數(shù)據(jù)處理及存儲(chǔ)功能。

6.配備小型燈塔用于指示檢測(cè)情況。

產(chǎn)

品

優(yōu)

勢(shì)

1.某些超薄的介電薄膜，光學(xué)方法難以測(cè)量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在這種情況下，kSA XRF可以很好地測(cè)量。

2.可在多種基板上測(cè)量金屬薄膜厚度。

3.實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，檢測(cè)薄膜厚度缺陷并進(jìn)行在線反饋。

4.軟件功能可定制，用戶可以依據(jù)特定要求設(shè)置。

5.檢測(cè)過程中可對(duì)質(zhì)量控制進(jìn)行驗(yàn)證，以確保涂層厚度在公差范圍內(nèi)。

6.工廠集成功能：使工廠用戶能夠?qū)⒃O(shè)備整合到現(xiàn)有系統(tǒng)（如：工廠警報(bào)、PLC、電子郵件警報(bào)等）中。

7.操作便捷，幾乎不需要額外設(shè)置，只需操作員定期進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)。

工

作

原

理

1.該系統(tǒng)由一個(gè)帶有高壓發(fā)生器的 X 射線管和一個(gè) X 射線探測(cè)器系統(tǒng)組成。

2.其 X 射線檢測(cè)系統(tǒng)組合了固態(tài)探測(cè)器、放大器、脈沖高度分析儀和多通道分析儀。

3.光譜儀能量校準(zhǔn)后，系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別 X 射線光譜峰值，并收集峰值強(qiáng)度以進(jìn)行進(jìn)一步處理。

4.該工具可根據(jù)客戶的薄膜配方和測(cè)量需求測(cè)量對(duì)應(yīng)的原子種類。

軟

件

功

能

1.使用專有的 k-Space 軟件測(cè)量，分析和存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。

2.可與現(xiàn)有質(zhì)量控制系統(tǒng)對(duì)接通訊。

3.利用光電檢測(cè)器的觸發(fā)器啟動(dòng)和停止數(shù)據(jù)采集。

4.專為典型的玻璃和太陽能電池板輸送速度而設(shè)計(jì)。

5.全自動(dòng)化，能夠與工廠自動(dòng)化通信對(duì)接。

6.報(bào)警信號(hào)可便捷的自定義配置。

7.單個(gè)檢測(cè)頭可以放置在面板寬度上的任何位置，并且可選配使用多個(gè)檢測(cè)頭。

8.厚度測(cè)量范圍為 0~500 nm±1 nm，靈敏度和測(cè)量不確定度取決于被測(cè)元素。

軟

件

截

圖

全新版本Setfos 5.3發(fā)布！太陽能電池/O

中科院化學(xué)所李永舫&孟磊團(tuán)隊(duì)：聚

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