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　　透射電子顯微鏡是一種提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和電學(xué)測量。
 

　　原位加熱樣品桿適合ETEM和TEM中的原位高溫實(shí)驗(yàn)，其對功率消耗和樣品熱漂移進(jìn)行了優(yōu)化以獲得好的性能。該樣品桿的高性能原材料和熱管理系統(tǒng)可幫助科學(xué)家對高溫下的樣品進(jìn)行原子分辨率的快速拍照與觀察。能夠在透射電鏡(TEM)內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)(例如原子結(jié)構(gòu))在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結(jié)構(gòu)與其氣固界面反應(yīng)性質(zhì)之間的科學(xué)關(guān)系。
 

　　原位加熱樣品桿能夠在透射電鏡內(nèi)完成原位加熱，電學(xué)以及加熱電學(xué)同時(shí)進(jìn)行的相關(guān)實(shí)驗(yàn)。