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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 類型 | 數(shù)字式電阻測試儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
低阻雙電阻四探針測試儀功能概述：
1. 可以測試到1uΩ方阻值
2. 恒流輸出
3. 液晶顯示
4. 自動數(shù)據(jù)測量
5. 雙電組合測試方法.
6. 提供中文或英文語言版本.
7. PC軟件運(yùn)行.
低阻雙電阻四探針測試儀適用范圍：
1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等
應(yīng)用說明：
四探針法測試的 導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測量的材料.
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號specification model | ZB-361A | ZB-361B |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-6～2×102Ω/□ | 10-6～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 10-7～2×103Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm |
3.測試電流范圍test current | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.電流精度current accuracy | ±0.1% | |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |
7.測試方式test mode | 組合雙電測試方法combined double electric test method | |
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | |
9.誤差errors | ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） | |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |
11.測試探頭test probe | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | |