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SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器(波前分析儀)

【SID4-eSWIR簡介】

隨著光波波前探測技術(shù)的發(fā)展，各種波前傳感器應(yīng)運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學(xué)原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標(biāo)準(zhǔn)鏡;它們結(jié)構(gòu)簡單，抗干擾能力強，條紋穩(wěn)定。SID4-eSWIR波前傳感器將Phasics的四波剪切技術(shù)與T2SL探測器結(jié)合在一起，提供覆蓋1.0至2.35 µm擴展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器。 SID4-eSWIR是一種創(chuàng)新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設(shè)備中使用的短波紅外光學(xué)系統(tǒng)。

【關(guān)于Phasics】

Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術(shù)的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗與*的波前測量技術(shù)為客戶提供全面的高性能波前傳感器。

一、 SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器(波前分析儀)主要特點

• 1.0至2.35 µm擴展波段全覆蓋

• 80 x 64高相位分辨率

• 瞬時相位測量，對振動不敏感

• 可接受非準(zhǔn)直光入射，光路搭建簡易快捷

二、SID4-eSWIR 波前傳感器產(chǎn)品功能

• 波前像差測量

基于四波剪切技術(shù)，Phasics 的波前傳感器同時提供高分辨率的相位和強度測量。 波前傳感器與其光束分析軟件相結(jié)合，可提供完整的激光診斷：波前像差、強度分布、激光光束質(zhì)量參數(shù)（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學(xué)裝置的任何一點，無論光束是準(zhǔn)直的還是發(fā)散的。SID4-NIR是一款高性價比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準(zhǔn)1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。

三、SID4--eSWIR 波前傳感器應(yīng)用領(lǐng)域

激光 |自適應(yīng)光學(xué)及等離子體檢測 |光學(xué)計量及光學(xué)系統(tǒng)計量

四、SID4-eSWIR 波前傳感器主要規(guī)格

五、更多參數(shù)選型