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渦磁原理涂層測厚儀
機型：LZ-990
特色：
· 雙功能膜厚計，磁性金屬與非磁性金屬底材都可以測量。
· 素材自動判別，自動切換測量模式。
· 圓桿及平面都可測。
（測頭引導具大「Ｖ」刻劃，小圓桿或大圓桿都適用；此外大平面設(shè)計的測頭引導面，使得平面測量更加穩(wěn)定。）
· 小平面工作亦可測量。
（拆下可拆式測頭引導露出測頭，可進行如同外接式測頭的小面積測量（測頭保有大「Ｖ」刻劃）。）
· 可設(shè)定共16組檢量線。
（大圓桿、小圓桿、大平面、小平面、不同材質(zhì)、不同厚度等都可各別設(shè)定檢量線；測量時不需另花時間校正?。?br/>· 具大型背光LCD顯示。
（測量時背光自動點亮，背光亮度及亮燈時間可自行設(shè)定。）
· 具統(tǒng)計、計算平均值、zui大值、zui小值、標準差功能。（測量次數(shù)2～1000不限定，任何時間都可隨意進行統(tǒng)計計算，取得每個工作的zui大值、zui小值、標準差值及平均值等。）
· 具記憶功能。
（自動記憶每一筆測量值，可隨時重新檢視及記錄。）
· 測量結(jié)果可傳輸打印
（可使用USB傳輸埠，可將測量結(jié)果傳輸至計算機，或用RS-232C傳輸至打印機直接打印。）
內(nèi)建中文、日文、韓文、英文語言顯示。
規(guī)格：
| 日本KETT 手持式膜厚計 LZ-990 渦磁原理涂層測厚儀 | |
| 測量方式 | 電磁／渦電流兩用式 |
| 測量對象 | 磁性金屬上非磁性被膜及非磁性金屬上絕緣被膜 |
| 測量范圍 | 0～2,000μm或0～80.0mils |
| 測量單位 | 公、英制可任意切換（μm/mils） |
| zui小測量面積 | 8x8mm |
| 測量精度 | 50μm以下：±1μm；50μm～1,000μm：±2%；1,000μm～2,000μm:±3% |
| 分辨率 | 100μm以下：0.1μm；100μm以上：1.0μm |
| 顯示方式 | 背光式LCD(128x64dots)數(shù)位顯示 |
| 資料記憶 | 約1,000筆 |
| 背光設(shè)定 | 背光強度：無背光、暗、普通、亮；背光時間：5秒、10秒、20秒 |
| 統(tǒng)計功能 | 平均值、zui大值、zui小值、標準差值 |
| 檢量曲線 | 電磁式、渦電流式各8組；共16檢量線 |
| 曲線建立 | 簡易校正：兩點校正；多點校正：五點校正 |
| 電 源 | 單4電池x2顆 |
| 消耗電力 | 40mW(背光未開啟時) |
| 電池壽命 | 連續(xù)使用60小時(背光未開啟時) |
| 節(jié)電功能 | 閑置時自動關(guān)機(可選擇自動關(guān)機時間) |
| 操作環(huán)境 | 0～40℃ |
| 公值設(shè)定 | 可設(shè)定上下限，以箭頭及聲響警示 |
| 功能應用 | 檢量線記憶、測量資料記憶、資料刪除、資料輸出、批號區(qū)分、自動電源開關(guān)、內(nèi)建時鐘、統(tǒng)計計算、背光顯示、單位設(shè)定等功能 |
| 傳輸功能 | USB界面?zhèn)鬏斨劣嬎銠C或打印機VZ-330(選配) |
| 尺 寸 | W82xD99.5xH32(mm) |
| 重 量 | 約160g |
| 標準配件 | 鐵素材1片、鋁素材1片、校正片3片、電池2顆、攜帶套、操作說明書 |
| 選購配件 | 標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測臺LW-990、USB計算機傳輸線、打印機VZ-330、打印機傳輸線RS-232C、透明保護膠膜 |
| 符合規(guī)范 | CE、JIS5600、ISO2808、2178、2360 |
株式會社ケツト科學研究所
Kett Electric Laboratory
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