目錄:北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司>>應(yīng)力儀>>光學(xué)材料測試>> 各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學(xué)各向異性（OPTAF)。該系統(tǒng)是根據(jù)Dr.G.e.Jellison Jr等人在在論文中提出的“使用雙調(diào)制器廣義橢圓測微顯微鏡（2-MGME)的垂直入射廣義橢圓儀。該橢圓儀是一個重大的突破，光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、收集更多的數(shù)據(jù)。該系統(tǒng)是圍繞兩個Hinds Instruments 系列I 光彈性調(diào)制器（PEMs)建立.Hinds Instruments公司是基于PEM偏振調(diào)制原理的科研和工業(yè)儀器和技術(shù)的開發(fā)商。PEM被廣泛應(yīng)用于高靈敏度光學(xué)測量設(shè)備的研究和開發(fā)應(yīng)用。2-MGEM橢圓儀測量光束偏振狀態(tài)的變化，這些光偏振束態(tài)是由TRISO燃料 顆粒的各層反射而來的。該系統(tǒng)采用高精度定位平臺，測量點大小為5 μm，在被測量的每個燃料顆粒上收集數(shù)千個點。通過自動化軟件計算并報告了各個采樣點的線性衰減、線性延遲和反射強度。然后用這些參數(shù)計算每個熱解炭層(IPyC 和OPyC)的OPTAF測定。
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計由四個主要部件組成：
掃描模塊
主電機外殼
光源
計算機系統(tǒng)
4
化工儀器網(wǎng)