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產(chǎn)品分類 品牌分類

功能材料測(cè)試儀器

激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻
全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	石油,能源,電子/電池,航空航天,電氣

鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)（靜態(tài)）、強(qiáng)場(chǎng)介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試；配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。

詳細(xì)介紹

鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

優(yōu)點(diǎn)

可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；

測(cè)量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試；

可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試

它可測(cè)量壓電陶瓷的因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)

可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試

本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)

HCTD-2000x

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場(chǎng)介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試；配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。

設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i3 或以上)、RAM(4G 或以上)、硬盤(120G 固態(tài)硬盤)、網(wǎng)卡、USB 接口、VGA 接口、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測(cè)試軟件等。

鐵電模塊測(cè)試功能

鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（0.001Hz~150kHz）；
脈沖測(cè)試：min脈沖寬度2μs，小上升時(shí)間1μs；
疲勞測(cè)試:max頻率300kHz；
保持力測(cè)試；
靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
印跡測(cè)試；
漏電流測(cè)試：1pA to 1A。

高壓放大器模塊參數(shù)

高壓電源：DC~150kHz
輸出電壓： 1600Vp-p（±800Vp）(可選)
輸出電流：40mA
輸出波形：正弦波、三角波、梯形波等

壓電模塊測(cè)試功能

電容-電壓曲線、損耗曲線；
壓電測(cè)試（蝴蝶曲線、d33 曲線）；
熱釋電測(cè)試；
e31、h31 測(cè)試；
靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試；
測(cè)量范圍(D33）：2至4000pC/N
測(cè)試頻率：20HZ-10M;
測(cè)試精度：0.05%
測(cè)量參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac
施力裝置：約4公斤