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當(dāng)前位置：南京互川電子有限公司>>無(wú)損檢測(cè)器材>>磁粉試塊試片>> 美國(guó)磁通KSC-430QQI試片/標(biāo)準(zhǔn)QQI試片
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)美國(guó)磁通KSC-430
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地南京市
更新時(shí)間：2024-04-15 18:01:59瀏覽次數(shù)：2706次
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磁粉探傷試片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型試片 ,D型試片,C
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片（磁粉探傷試片）
I試片
定量品質(zhì)試片
（I）是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片，I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度
3.平衡多向磁場(chǎng)
a）標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng)
件號(hào)：519630 型號(hào)：KSC-230
件號(hào)：521048 型號(hào)：KSC-430
說(shuō)明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸
b）小型I試片
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個(gè)圓，可切割開(kāi)，單獨(dú)使用
件號(hào)：519631
型號(hào)：KSC-4-230
說(shuō)明：小型I試片，每片試片有4個(gè)基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
c）不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)
件號(hào)：519632
型號(hào)：KSCT-234
說(shuō)明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上。
件號(hào)：521049
型號(hào)：KSC4-234
不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸
| 名稱 | 型號(hào) | 備注 |
| 中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB11345-1989 | CSK-IB | |
| RB-1,RB-2,RB-3 | | |
| 中華人民共和國(guó)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)ZBY231-1984,ZBY232-1984 | 1# | |
| DB-H1,DB-H2 | | |
| DB-P | 全套12塊 | |
| DB-D1ab | 全套2塊 | |
| DB-R,DB-D2（平底） | | |
| 荷蘭試塊 | V-1（IIW1） | |
| 牛角試塊 | V-2（IIW2） | |
| 半圓試塊 | SH-1 | |
| 模擬試塊 | H-30,H-50,H-80 | 每種全套5塊 |
| 靈敏度試塊 | CS-1 | 全套15塊 |
| CS-2 | 全套66塊 | |
| 溝槽透度計(jì)（射線照像探傷用） | 1-2# | 全套2塊 |
| 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 | WGT-1,WGT-2,WGT-3 | |
| GTS-60 | 短432mm,加長(zhǎng)1300mm | |
| 帶把階梯 | | |
| 三角試塊a.b | 全套2塊 | |
| TDS | | |
| TZS-R | 全套6塊 | |
| LG-R | 全套2塊 | |
| 水電部標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SD-I | |
| SD-IIab | 全套2塊 | |
| 中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T5048-1995 | CSK-IB,RB-3,SD-IV | |
| SD-III | 來(lái)料加工 | |
| 補(bǔ)償測(cè)量ab | 全套2塊,來(lái)料加工 | |
| 小徑管焊接DL-1 | 全套4塊 | |
| 測(cè)量補(bǔ)償量 | 來(lái)料加工 | |
| 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)試塊 | NAVSHIPS | |
| ASME | 全套6塊 | |
| 英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)試塊 | B.S.A3 | |
| 日本標(biāo)準(zhǔn)試塊 | JIS-STB-A2,JIS-STB-A3 | |
| JIS-STB-G | 全套10件 | |
| 對(duì)比試塊 | DZ-1 | |
| 直流環(huán)形試塊（磁粉探傷） | | |
| 階梯試塊（射線照像探傷） | | |
| 靈敏度試塊 | A1,A2 | |
| JB1150-73鋼板試塊 | | 全套3塊 |
| 盲區(qū)試塊 | | |
| 水平線性試塊 | 1-3# | 全套3塊 |
| 參考試塊 | CS-R | 全套14塊 |
| 鋼板試塊 | | 全套5塊 |
| 中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB4730-1994 | 板厚≤20mm雙晶直探頭試塊 | 全套2塊 |
| 板厚＞20mm單晶直探頭試塊 | 全套6塊 | |
| 縱波直探頭試塊 | | 全套4塊 |
| 縱波雙晶直探頭試塊 | | 全套4塊 |
| 曲面對(duì)比試塊 | | 全套14塊 |
| 復(fù)合鋼板對(duì)比試塊 | | 來(lái)料加工 |
| 奧氏體鋼鍛件試塊 | | 全套27塊,來(lái)料加工 |
| CSK-IA（綜合試塊,類似荷蘭試塊） | | |
| CSK-IIA（長(zhǎng)橫孔試塊） | | |
| CSK-IIIA（短橫孔試塊） | | |
| CSK-IVA | | 全套4塊 |
| T1,T2,T3型試塊 | | 來(lái)料加工 |
| 鋁試塊 | | 來(lái)料加工 |
| 測(cè)厚試塊 | | 全套2塊 |
| 探頭組合性能試塊 | φ5.6孔 | |
| 工業(yè)鍋爐T型接頭對(duì)接焊縫試塊 | RB-T,RB-Z | 提供尺寸 |
| 鑄鋼試塊 | | 來(lái)圖來(lái)料加工 |
| 鋁合金試塊 | | 來(lái)圖來(lái)料加工 |
| 中國(guó)石油天然氣總公司標(biāo)準(zhǔn)SY4065-1993 | SGB-1~6 | 全套6塊 |
| JG/T3034.2-1996鋼網(wǎng)架試塊 | CSK-1C | 全套3塊 |
| RBJ-1 | 提供直徑和壁厚 | |
| CSK-I | | |
| CSK-II | | |
| CSK-III | | |
| 中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T694-1999 | LS-1 | |
| LS-2 | | |
| 微盲區(qū)試塊 | STM-1,STM-2 | 產(chǎn)品 |
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