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食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 DMT-E
由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此不能用常規(guī)的測厚儀器檢測其厚度。由國家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心(濟南)起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測試方法--電阻法》于1996年頒布，詳細介紹了如何檢測絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測試方法。電阻法檢測鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。
食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 測試原理：
鋁是導電金屬，通過測試規(guī)定面積內(nèi)試樣的電阻值，和一定溫度下的鋁的導電率，計算出試樣的鍍鋁層厚度。
儀器試驗步驟
1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃.，45%-55%RH環(huán)境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。
測試的實驗結(jié)果自動顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。
檢測產(chǎn)品
主要參數(shù)
厚度測量范圍：厚度50-570?
方塊電阻測量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長寬高）
重量：19kg
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