IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品的特點(diǎn) 
不同測量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測量 
測量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下（頻率、電平）測量多種測量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。 

檢查速度提高了2倍（跟以往型號(hào)相比） 
和HIOKI的以往型號(hào)（3532-50）相比，大大縮短了測量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。 

測量的反復(fù)精度提高了1位（※1mΩ，100次測量時(shí)） 
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測量多個(gè)mΩ。IM3570在測量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測量。 

廣范圍的測量頻率 
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶（1kHz以下為0.01Hz分辨率）?？稍诮咏舱耦l率的測量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測量和評(píng)價(jià)。 

15種測量參數(shù) 
可測量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。 

具備防止誤操作的接觸檢查功能 
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態(tài)下測量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。 

廣范圍的測量電壓/電流 
外加一般的開路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測量?？稍O(shè)置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的測量信號(hào)電平。 

測試線可延長至4m 
4端子的構(gòu)造可降低測試線的影響，測試線長達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。

IM3570阻抗分析儀主要參數(shù)