一、產(chǎn)品概述：

該設(shè)備適用于學(xué)校，工廠，軍工，科研單位，實(shí)驗(yàn)室、高校等單位，來(lái)檢測(cè)各種電子元?dú)饧诟邷?，低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)、貯存和使用的適應(yīng)性。

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二、技術(shù)參數(shù)：

海向快速溫變?cè)囼?yàn)箱 性能測(cè)試箱半導(dǎo)體

三、箱體結(jié)構(gòu)：

l  箱體造型美觀大方，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。

l  箱體內(nèi)膽采用高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

l  大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。箱體左側(cè)配有測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說(shuō)明)。機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。

四、控制系統(tǒng)：

l  7寸可程式彩色觸摸控制器。

l  采用大屏觸摸屏模式熒幕畫(huà)面、熒幕操作簡(jiǎn)單、程式編輯容易。

l  控器操作界面設(shè)中英文可供選擇、即使運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。

l  具有100組程式1000段999循環(huán)步驟的容量、每段時(shí)間設(shè)定值為99小時(shí)59分鐘。

l  資料及試驗(yàn)條件輸入后、控制器具有熒屏鎖定功能、避免人為觸摸而停機(jī)。

l  具有PID自動(dòng)演算功能、可將溫度變化條件立即修正、使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

l  具有RS-232或RS-485通訊界面、可在電腦上設(shè)計(jì)程式、監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行開(kāi)關(guān)機(jī)功能。

l  可連接打印機(jī)或485通訊接口、用電腦顯示、并打印溫度和時(shí)間曲線、為試驗(yàn)過(guò)程數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于回放提供有力保證。

五、制冷系統(tǒng)：

l  制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

l  冷凍系統(tǒng)采用單機(jī)低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

l  采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

l  風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

l  升溫、降溫獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

六、符合標(biāo)準(zhǔn)：

l  GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法。

l  GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法。

l  GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

l  GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn) B《高溫試驗(yàn)方法》

l  GB10586-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

l  GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法

l  GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A：高溫試驗(yàn)方法

l  IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

l  IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

海向快速溫變?cè)囼?yàn)箱 性能測(cè)試箱半導(dǎo)體