首頁>>貝士德儀器科技（北京）有限公司>>產(chǎn)品展示>>比表面積及孔隙度測(cè)試儀>>比表面積及孔隙度分布測(cè)量?jī)x
比表面積及孔隙度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
比表面積及孔隙度測(cè)量?jī)x測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及...
比表面測(cè)量?jī)x及孔隙度分布測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
經(jīng)過改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推...
比表面積儀及孔隙度分布測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
經(jīng)過改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推...
比表面積及孔隙度分布測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
經(jīng)過改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
15