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OCS 粒子尺寸和形狀分布測試儀（PSSD） 用于對顆粒的尺寸和形狀分布進(jìn)行快速分析和分級，同時對物料外觀缺陷進(jìn)行快速檢測。待測物料通過振動平臺傳送至末端以自由落體方式下落，下落過程中每個粒子都被線掃描相機(jī)捕捉并對其外形尺寸進(jìn)行分析，可檢測的外觀缺陷包括大粒、小粒、聯(lián)粒、拖尾、絲發(fā)、碎屑/粉塵等。PSSD 可以離線配置于用戶實(shí)驗(yàn)室，也可采用旁路采樣的在線配置方式，測試數(shù)據(jù)通過通訊端口輸送至控制室 DCS，用于質(zhì)量分析和控制，如監(jiān)測造粒系統(tǒng)（評估切刀的磨損程度），測量粒子重量（選配稱重系統(tǒng)）等。

可測試的原材料 

■所有類型粒子 

特點(diǎn) 

■高速CMOS線掃描相機(jī)（單色） 

■可檢測到的最小材料尺寸： 71 μm 

■zui高處理量可達(dá)18 公斤/小時，根據(jù)具體材料性能差異而不同 

■結(jié)果實(shí)時可視化 

兼容于以下設(shè)備 

■OCS 粒子黑點(diǎn)雜質(zhì)檢測儀(PS25C）

粒子尺寸和形狀分布測試儀（PSSD）