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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>表面/界面性能測定儀>納米壓痕儀/劃痕儀> KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

參考價(jià)50000-999999/臺
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學(xué)博士共同創(chuàng)辦的德國公司?;?/span> Science is international”的想法,“全球協(xié)同實(shí)驗(yàn)室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學(xué)家到科學(xué)家,科學(xué)開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導(dǎo)體技術(shù)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等科研領(lǐng)域,始終秉承“前沿、專業(yè)、科學(xué)”的宗旨,將前沿技術(shù)引進(jìn)到協(xié)同實(shí)驗(yàn)室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程;材料科學(xué)的檢測、分析;生命科學(xué)成像,腦科學(xué)與行為認(rèn)知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應(yīng)商,FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應(yīng)體系、以及嚴(yán)格的質(zhì)量管控系統(tǒng),能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

公司服務(wù)的客戶領(lǐng)域廣泛,其中包括消費(fèi)電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導(dǎo)體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機(jī)構(gòu)。

在成長的過程中,我們腳踏實(shí)地、奮勇向前。自2015年香港(中華區(qū))公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚(yáng)帆起航!

 

 

 

 

半導(dǎo)體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 50萬-100萬
儀器種類 納米壓痕儀 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀提供了易于使用的納米級力學(xué)測試工具,并快速、精確地對結(jié)果進(jìn)行定量分析。G200X系統(tǒng)配置了我們性能優(yōu)秀的運(yùn)動系統(tǒng)、最大的樣品裝載系統(tǒng)和高分辨率光學(xué)顯微鏡。因?yàn)閾碛蠭nView軟件、InQuest控制器和InForce作動器,我們的整個(gè)壓痕產(chǎn)品線均擁有優(yōu)秀的性能。KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀系統(tǒng)選件包括連續(xù)剛度測量(CSM)、掃描探針顯微成像、劃痕測試、頻率掃描、電學(xué)性能測量、快速壓痕測試和沖擊測試。

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

主要功能

  • 電磁驅(qū)動作動器可實(shí)現(xiàn)載荷和位移的寬動態(tài)范圍控制

  • 高分辨率光學(xué)顯微鏡與精密XYZ移動系統(tǒng)的結(jié)合能實(shí)現(xiàn)高精度觀察與定位測試樣本。

  • 便捷的樣品裝載臺與多樣品定位功能實(shí)現(xiàn)高通量測試。

  • 模塊選件遠(yuǎn)不止能進(jìn)行壓痕測試,還可進(jìn)行SPM成像、劃痕測試、高溫納米壓痕測量、動態(tài)壓痕測試(連續(xù)剛度測量)和快速壓痕測試等模塊化升級選件。

  • 直觀的用戶操作界面便于快速進(jìn)行測試設(shè)置;僅需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)即可完成測試的參數(shù)設(shè)置。

  • 實(shí)時(shí)高效的實(shí)驗(yàn)控制,簡單易用的測試流程開發(fā)和測試設(shè)置。

  • 全套InView軟件,包括用于分析數(shù)據(jù)和創(chuàng)建報(bào)告的ReviewData和InFocus。

  • 備受贊譽(yù)的快速納米壓痕測試可用于生成材料力學(xué)性能圖像,并提升統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的可靠性。

  • InQuest高速數(shù)字控制器,數(shù)據(jù)采集速率最高可達(dá)100kHz,時(shí)間常數(shù)最快為20µs。

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

主要應(yīng)用

  • 快速硬度和模量測量(基于Oliver-Pharr模型)

  • 快速材料表面力學(xué)特性成像

  • ISO 14577硬度測試

  • 薄膜及涂層測試

  • 界面附著力測量

  • 斷裂韌性測量

  • 粘彈性測量,包括損耗因子,儲存模量和損耗模量

  • 掃描探針顯微成像(3D 成像)

  • 定量劃痕和摩擦磨損測試

  • 高溫納米壓痕測試

  • I-V測試

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

行業(yè)分布

  • 高校、科研實(shí)驗(yàn)室和研究所

  • 半導(dǎo)體與封裝產(chǎn)業(yè)

  • PVD/CVD硬質(zhì)涂層(DLC、TiN)

  • MEMS:微機(jī)電系統(tǒng)/納米級通用測試

  • 陶瓷與玻璃

  • 金屬與合金

  • 制藥

  • 涂層與油漆

  • 復(fù)合材料

  • 電池與儲能

  • 汽車與航空航天



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