中電集創(chuàng)（cecjc）檢測類 AI顯微鏡AI顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)功能：檢測模型訓(xùn)練、推理檢測、NG缺陷分類標(biāo)注亦可根據(jù)個性化需求，定制優(yōu)化，迭代算法模型;

應(yīng)用于微組裝半導(dǎo)體、電子組件PCB檢測、醫(yī)療器械、精密工程等領(lǐng)域集產(chǎn)品檢查、分析及維修一體式工作站，操作人員可以在舒適的狀態(tài)下工作，操作者能及時查看顯示出的影像，實現(xiàn)檢驗過程智能自學(xué)習(xí)、數(shù)字化、組織資產(chǎn)化、檢測更**、性價比更高、員工更健康。

中電集創(chuàng)（cecjc）檢測類 AI顯微鏡AI顯微鏡

JL-GOOD2000 AI顯微鏡面向工業(yè)視覺場景打造的平臺，提供分割、定位、推理、檢測、分類、多目標(biāo)識別、OCR等功能，用于產(chǎn)品復(fù)雜缺陷的識別檢測。采用圖形化界面設(shè)計，無需編程，即可完成集模型訓(xùn)練、調(diào)優(yōu)、推理檢測于一體的完整AI模型構(gòu)建?；谏疃葘W(xué)習(xí)圖像技術(shù)的動態(tài)自學(xué)習(xí)、自適應(yīng)、無監(jiān)督缺陷檢測算法具有數(shù)據(jù)成本低、靈活性高等優(yōu)勢，應(yīng)用前景廣闊，能夠集成到多行業(yè)不同的產(chǎn)線設(shè)備中，支持秒級切換模型適配產(chǎn)線切換，滿足不同應(yīng)用場景的差異化檢測需求，助力品質(zhì)管控和良率提升。

智能自學(xué)習(xí)

正樣本無監(jiān)督，自主學(xué)習(xí)，支持添加負樣本模型再訓(xùn)練，在線優(yōu)化，越用越智能，檢測越**

檢測更**

深度學(xué)習(xí)算法，針對行業(yè)場景適配優(yōu)化，可識別表面細微瑕疵缺陷，精度遠高于目檢

性價比更高

員工培訓(xùn)轉(zhuǎn)變?yōu)樗惴Ｐ陀?xùn)練有效避免員工培養(yǎng)的長周期、大投入，高流動性帶來的高額成本

數(shù)字化

檢測過程、結(jié)果自動實時記錄，可追溯，不可篡改，支持與管理系統(tǒng)集成，有力支撐數(shù)字化轉(zhuǎn)型

組織資產(chǎn)化

將員工的經(jīng)驗、能力沉淀為組織資產(chǎn);缺陷分類統(tǒng)計分析可支撐質(zhì)量審計，改善工藝

員工更健康

顯微鏡符合人體工學(xué)設(shè)計，4K高清輸出，細節(jié)**，快速高效，可很大程度降低勞動強度，緩解視疲勞

自主學(xué)習(xí)

少量正樣本照片初始訓(xùn)練業(yè)務(wù)中同步進行模型再訓(xùn)練和缺陷分類，自主在線學(xué)習(xí)，越用越智能

**支持

滿足工業(yè)質(zhì)檢多樣需求, 可靈活切換產(chǎn)線，提供多目標(biāo)識別、分割、分類、檢測、OCR等功能。

無需標(biāo)注

客戶無需標(biāo)注繁雜的缺陷樣本，不用定義缺陷邊界。

應(yīng)用靈活

應(yīng)對各種復(fù)雜場景，環(huán)境容忍度高，模型無需持續(xù)調(diào)整;可根據(jù)業(yè)務(wù)需要靈活適配算法。

便捷操作

無需編程，無代碼點選操作，無需算法基礎(chǔ)，即開即用，快速上手。

一鍵部署

支持缺陷樣本增加和再訓(xùn)練;算法模型經(jīng)平臺驗證后可一鍵部署到交付現(xiàn)場。

我們的優(yōu)勢

無需采集大量缺陷樣本數(shù)據(jù)，不必要定義缺陷樣本類型，無需標(biāo)注大量缺陷樣本數(shù)據(jù)，自動迭代優(yōu)化大量缺陷模型，自適應(yīng)新型缺陷類型，自動化適配新產(chǎn)品線，周期短、風(fēng)險小、成本低、易上手。

本地化部署

JL-GOOD2000 AI質(zhì)檢系統(tǒng)，現(xiàn)只需一套通用電腦即可實現(xiàn)本地化部署，無需強大的服務(wù)器就能夠適用于進行 AI 訓(xùn)練和深度學(xué)習(xí)任務(wù)