zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學材料檢測設備，非接觸光學膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)
| 測量范圍 | 0.1nm~10μm微米 | 測量時間 | 3min秒 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 分辨率 | 0.1nm微米 |
| 分散方式 | 濕法分散 | 價格區(qū)間 | 30萬-40萬 |
| 儀器種類 | 動態(tài)光散射 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
| 重現(xiàn)性 | 優(yōu)于5% |
大塚電子納米粒度儀ELSZ-2000可測量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量。
粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，小容量是130μL～的一次性樣品池。另外在0～90℃的大的溫度范圍內(nèi)，測量自動溫度的梯度空間，分析變性、相轉移溫度。
產(chǎn)品特點：
- 使用了新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間
- 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出變性、相轉移溫度
- 可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度
- 追加了大范圍的分子量測量及解析功能
- 懸濁類高濃度樣品的粒徑、ZETA電位的測量
- 實測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結果
- 高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
- 小面積樣品的平板ZETA電位測量
用途：
大塚電子納米粒度儀ELSZ-2000適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學領域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。
1)新功能性材料領域
燃料電池相關（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）
生物納米相關（納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等
2)陶瓷、色材工業(yè)領域
陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
無極膠體溶液的表面改質(zhì)、分散、凝集控制
顏料（炭黑、有機顏料）的分散、凝集控制
懸濁狀樣品
3)半導體領域
查明附著在硅體晶圓的異物的結構
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液
4)高分子、化學工業(yè)領域
Emulsion（塗料、膠水）的分散、凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)（醫(yī)藥 用、工業(yè) 用）
高分子電解質(zhì)（聚乙烯磺酸鹽、聚碳酸等）功能性的研究、功能性納米粒子
紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究
5)醫(yī)藥 品、食品工業(yè) 領域
Emulsion（食品、香料、醫(yī)療、化妝品）的分散、凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性
脂質(zhì)體、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤（膠粒）的功能性
設備參數(shù)：
| 測量原理 | 激光多普勒(Laser Doppler） |
| 光源 | 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射 |
| 感光元件 | 高感度APD |
| 樣品容器 | 標準樣品容器、微量（130μl~）可拋式樣品容器或高濃度樣品容器 |
| 溫度范圍 | 0~90℃（具備梯度功能） |
| 電源規(guī)格 | 100V±10% 250VA，50/60Hz |
| 尺寸 | 380(W)×600(D)×210(H)mm |
| 重量 | 約22kg |
測量范例：
印表機墨水界達電位測量
使用平板樣品容器的測量范例
微量可拋式樣品容器的測量范例
隱形眼鏡平板電位解析
毛發(fā)樣品zeta電位解析
選配附件：
pH滴定儀系統(tǒng)（ELSZ-PT）
• 平板樣品容器
•zeta電位用中、高濃度樣品容器•zeta電位用低介電常數(shù)樣品容器
•zeta電位用微量可拋式樣品容器
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