表面粗糙度測量儀:精確測評,助力品質提升
一、產(chǎn)品原理
表面粗糙度測量儀是一種用于測量物體表面粗糙度的精密儀器,其工作原理基于觸針位移法和光干涉法。
觸針位移法
觸針位移法是較為常見的測量原理。測量時,觸針輕觸被測表面,儀器驅動觸針沿被測表面勻速滑行。表面微觀起伏使觸針產(chǎn)生位移,此位移由傳感器轉換為電信號,經(jīng)放大、濾波等處理后,依據(jù)設定的評定參數(shù)(如 Ra、Rz 等),由內置處理器計算并顯示表面粗糙度數(shù)值。
光干涉法
光干涉法借助光學原理測量表面粗糙度。平行光束照射被測表面,光線反射后進入干涉儀,形成干涉條紋。表面粗糙度影響反射光相位,改變干涉條紋分布。儀器通過分析干涉條紋變化,利用光干涉公式計算表面粗糙度參數(shù)。此法適用于超光滑表面測量,精度高、非接觸式測量避免對樣品損傷。
二、技術參數(shù)
參數(shù)類別 | 參數(shù)名稱 | 參數(shù)值 |
---|---|---|
測量范圍 | Ra | 0.005 - 16.0μm |
Rq | 0.006 - 18.0μm | |
Rz | 0.02 - 160.0μm | |
Rt | 0.05 - 180.0μm | |
測量精度 | Ra | ±(5% + 0.02μm) |
Rq | ±(5% + 0.02μm) | |
Rz | ±(8% + 0.04μm) | |
Rt | ±(8% + 0.04μm) | |
測量力 | 探測力 | 75 ± 20mN(遵循 ISO3274 標準)<br>75 ± 15mN(遵循 JISB0601 標準) |
探針參數(shù) | 提升力 | >2N |
測針角度 | 90°(菱形) | |
測針半徑 | 5μm(標準)<br>2.5μm(選配) | |
橫向行程 | 0 - 25.00mm | |
測量速度 | 0.25、0.5mm/s(選配) | |
濾波器 | 符合 ISO1156、ISO4287 標準的 RC、PC、Gaussian 和 2CR 共 40 種濾波器 | |
環(huán)境要求 | 環(huán)境溫度 | 0 - 40℃ |
相對濕度 | ≤80% RH | |
電源要求 | 電源電壓 | 100 - 240V ±10%,48 - 62Hz |
外形尺寸 | 主機尺寸 | 170×110×60mm(不含支柱) |
探頭尺寸 | 40×40×115mm | |
主機重量 | 0.8kg(不含支柱) |
三、產(chǎn)品特點
- 高精度測量:采用高精度傳感器和先進的信號處理技術,確保測量結果精確可靠,重復性好。
- 寬測量范圍:支持多種粗糙度參數(shù)測量,包括 Ra、Rq、Rz 和 Rt 等,滿足不同行業(yè)和應用場景的需求。
- 便攜式設計:體積小、重量輕,便于攜帶和現(xiàn)場使用,特別適用于生產(chǎn)現(xiàn)場和野外測量。
- 直觀的操作界面:配備大尺寸液晶顯示屏,顯示清晰,操作簡便,支持多點觸控和手勢操作。
- 強大的數(shù)據(jù)處理功能:支持實時數(shù)據(jù)顯示、存儲和導出,可連接計算機進行數(shù)據(jù)分析和報告生成,滿足質量控制和實驗室研究的需求。
- 符合國際標準:設計和性能符合 ISO、DIN 和 JIS 等國際標準,確保測量結果的可靠性和可追溯性。
四、應用領域
表面粗糙度測量儀廣泛應用于機械加工、汽車制造、航空航天、電子工業(yè)、模具制造和計量檢測等領域,能夠快速、準確地測量各種金屬和非金屬表面的粗糙度,為質量控制、工藝優(yōu)化和產(chǎn)品開發(fā)提供有力支持。
五、產(chǎn)品特性
- 多參數(shù)測量:支持多種粗糙度參數(shù)測量,滿足不同行業(yè)和應用場景的需求。
- 快速測量:優(yōu)化的測量流程,能夠在短時間內完成測量任務,提高工作效率。
- 高重復性:采用先進的測量技術和精密的機械結構,確保測量結果具有良好的重復性。
- 數(shù)據(jù)管理功能:支持數(shù)據(jù)存儲、導出和打印功能,方便用戶進行數(shù)據(jù)管理和分析。
- 多種測量模式:支持單點測量、連續(xù)測量和自動測量等多種模式,滿足不同用戶的測量需求。
- 耐用性:采用高品質材料和零部件制造,確保設備的長期穩(wěn)定運行。
表面粗糙度測量儀以其高精度、便攜性和強大的數(shù)據(jù)處理功能,成為表面質量檢測的重要工具,廣泛應用于工業(yè)生產(chǎn)和科研領域。隨著技術的不斷發(fā)展,表面粗糙度測量儀將繼續(xù)朝著更高的精度、更強的穩(wěn)定性和更智能化的方向發(fā)展,為各行業(yè)的質量控制和工藝優(yōu)化提供更有力的支持。
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