利用鍍層XRF（X射線熒光）進行測量涉及多項步驟，但是對焦（即正確設(shè)置X射線管、零件和檢測器之間的幾何位置）是最關(guān)鍵的步驟，因為它直接影響結(jié)果的準確性。在操作員找到測量位置后，需要對焦零件。

傳統(tǒng)儀器通過激光對焦或視頻對焦完成上述對焦。日立的XRF鍍層分析儀FT230可以使用激光對焦，但也提供兩種自動對焦功能來加速和簡化這一步驟。

 

自動接近功能可測量從X射線管到零件之間的距離，并自動將X射線管移動到預(yù)定義的工作距離。自動對焦（有時又稱“與距離無關(guān)的測量”）也會測量從X射線管到零件之間的距離，但不會移動X射線管，而是將X射線管保持在相同的高度，并使用測得的距離來校正新的幾何計算模式以獲得正確結(jié)果。兩種方法均有各自的用途，使用任一種方法都可以大大提高測試程序的速度。這會讓您會節(jié)省很多時間??！

自動接近相關(guān)說明

為從XRF鍍層分析儀獲得一致的結(jié)果，在每次進行測量時，最好使X射線管、零件和探測器之間的距離保持相同。這是因為X射線的強度取決于距離而且射線管—零件—探測器之間幾何位置的變化會影響厚度測量結(jié)果。

在一般情況下，XRF鍍層分析儀采用對焦激光和視頻對焦（評估圖像對比度）這兩種方法中的一種來保持這種重要的幾何位置。臺式分析儀的分析頭（包括X射線管和探測器）上下移動，直至分析儀對焦程序得以完成，在某些情況下，需操作員略微進行最后調(diào)整。前述程序的初始化、移動和完成需要一定時間，而且如果操作員需做出決策，也可能引入誤判。

日立FT230可配置一種被稱為自動接近的功能，只需點擊一下即可將分析頭移動到正確位置。儀器內(nèi)部的傳感器可測量到樣品的距離。當啟用自動接近功能時，儀器會將前述距離與校準中所選工作距離（也被稱為焦距）進行比較，并將分析頭移至該位置。由此為操作員提供高置信度的準確結(jié)果，而無需花費較長時間，也不會在零件對焦中出錯。

一項簡單的實驗可舉例說明自動接近功能的優(yōu)點。將六份高度為4.8 – 6.6”（1.9 – 2.6 cm）的零件加載到樣品室內(nèi)。操作員創(chuàng)建多點程序，以便在各零件上分別測量一個位置。

這項操作由經(jīng)過培訓(xùn)的同一操作員采用兩種方法完成：一種方法是對焦激光（分析頭移動，而操作員決定零件何時對焦）；另一種方法是自動接近（分析頭自動移動到正確焦距處，無需操作員干預(yù)）。由于兩種場景中的測量時間相同，因此只需考慮程序創(chuàng)建時間。相關(guān)實驗結(jié)果如下所示：

僅采用激光對焦創(chuàng)建6點程序所需時間：44秒

采用自動接近創(chuàng)建6點程序所需時間：29秒

節(jié)省時間：15秒（即省時33%）

 

這看似省時不多，但在通常情況下，若每天重復(fù)這種操作50次，則操作員可節(jié)省12分鐘，并將所節(jié)省的時間用于開展其它工作。在200天內(nèi)采用自動接近功能可為XRF操作員創(chuàng)造近40小時或者近1個工作周的額外生產(chǎn)力。自動接近功能可與廣域相機等其它功能相結(jié)合，以在擬測量樣品的制備過程中節(jié)省更多時間。

自動對焦相關(guān)說明

在定位零件進行測量后，按下開始按鈕之前的最后一項步驟是對焦零件。通?？梢岳脤辜す饣蛘邎D像對比度評估程序來實現(xiàn)該操作。

無論采用對焦激光還是圖像對比度評估程序，分析儀的分析頭（包括X射線管和探測器）均會上下移動，直至分析儀的對焦程序得以完成，在某些情況下，需要操作員進行較小的/細微的最終調(diào)整。前述程序的初始化、移動和完成需要一定時間，而且如果操作員需做出決策，也可能引入誤判。

日立FT230也可配備自動對焦功能，無需操作員參與，而且不會移動分析儀的分析頭。當啟用自動對焦功能時，相機不斷對焦于測量十字線中的零件。相應(yīng)程序甚至測量到每個零件的距離，這使得操作員可以測量具有不同高度或者臺階式幾何形狀的零部件。這種快到令人難以置信的測量速度可在確保操作員花費更少時間設(shè)置零件的同時應(yīng)對更大的測試量。

一項簡單的實驗可舉例說明自動對焦功能的優(yōu)點。將六份高度為4.8 – 6.6”（1.9 – 2.6 cm）的零件加載到樣品室內(nèi)。操作員創(chuàng)建多點程序，以便在各零件上分別測量一個位置。

該操作由經(jīng)過培訓(xùn)的同一操作員采用兩種方法完成：一種方法是對焦激光（分析頭移動，而操作員決定零件何時對焦）；另一種方法是自動對焦（分析頭不會移動，而且操作員也沒有就對焦進行任何輸入操作）。由于兩種場景中的測量時間相同，因此只需考慮程序創(chuàng)建時間。實驗結(jié)果如下所示：

僅采用激光對焦創(chuàng)建6點程序所需時間：44秒

采用自動對焦創(chuàng)建6點程序所需時間：17秒

節(jié)省時間：27秒（即省時62%） 

 

這種省時量對于單次運行而言相當不錯；但是，考慮到通常每天至少需進行50次類似運行，可以節(jié)省多少時間？答案是一天中總共可節(jié)省22分鐘以上，而且操作員還能騰出時間開展其它工作。在200天內(nèi)自動對焦功能可為XRF操作員創(chuàng)造超過76小時或者近兩個工作周的額外生產(chǎn)力。自動對焦功能可與廣域相機等其它功能相結(jié)合，以在擬測量樣品的制備過程中節(jié)省更多時間。

零件高度的范圍越大，自動對焦功能的優(yōu)勢就越明顯，因為操作員在分析頭位置調(diào)整方面所花時間更少。此外，在采用對焦激光方法時，零件高度的范圍受工作距離（也被稱為焦距）限制。通過自動對焦功能，F(xiàn)T230可測量其高度變化不超過3.1”（80mm）的零件。 

最后，F(xiàn)T230臺式XRF鍍層分析儀設(shè)計針對于大量縮短測量時間。由于樣品設(shè)置和測量方法的選擇會花費大多數(shù)時間，而自動化和創(chuàng)新軟件的引入使FT230分析儀得以實現(xiàn)簡單化、智能化。