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深圳市京都玉崎電子有限公司
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【小王子上新】我司近期推出產(chǎn)品SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E
日本SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E
測(cè)量范圍 0~500 μm
特征
模擬膜厚儀
非常適合測(cè)量小零件，高性能小型2極型：可以測(cè)量小地方和內(nèi)部（定制）
該探頭體積小，適用于測(cè)量局部涂層的厚度，如平面和彎曲到圓棒、零件、復(fù)雜形狀和內(nèi)部。
規(guī)格
測(cè)量范圍：0 至 500 μm
探頭：磁極/2極型，磁極直徑/φ2.5，尺寸/10（W）×17（H）×21（D）mm
尺寸：190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米
重量：1.8公斤
附件：標(biāo)準(zhǔn)板、AC適配器、肩包
