hast高壓加速老化試驗箱設備特點：

1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。

2)獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。

3)門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現性.

5)超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.

6)水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.

7)tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.

9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）

11)USB導出歷史記錄數據，曲線.

hast蒸汽老化試驗箱用途：

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。

hast蒸汽老化試驗箱全稱為"Humidity and Temperature Test"（濕熱老化試驗箱），是一種用于進行高溫高濕環(huán)境下的快速老化測試的設備。它主要用于評估電子元器件在潮濕環(huán)境下的可靠性和耐受性。

HAST蒸汽老化試驗箱通過將樣品置于高壓飽和蒸汽的環(huán)境中，結合高溫高濕條件和一定的電氣應力，模擬真實環(huán)境中的潮濕環(huán)境，從而加速電子元器件的老化過程。

在HAST蒸汽老化試驗中，電子元器件通常被放置在密封的試驗室中，并通過電氣連接與測試設備相連。試驗箱會提供一定的溫度和濕度控制，同時施加一定的電壓或電流以產生電氣應力。

通過HAST蒸汽老化試驗箱，可以對電子元器件進行快速老化測試，并評估其在潮濕環(huán)境下的可靠性和壽命特性。這有助于制造商發(fā)現潛在的故障和問題，改進產品設計和生產工藝，提高產品質量和可靠性，以滿足客戶的需求和期望。