深圳市奧宇自動化設(shè)備有限公司是一所長期致力于傳感器、自動化機(jī)械設(shè)備及配件、儀器儀表、機(jī)電產(chǎn)品的研發(fā)、銷售；國內(nèi)貿(mào)易；貨物及技術(shù) 進(jìn)出口，備品備件的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，為國內(nèi)外機(jī)電產(chǎn)品購銷提供的供銷服務(wù)平臺。公司擁有一批具有豐富經(jīng)驗和流業(yè)務(wù)素質(zhì)水平的銷售人員和專業(yè)技術(shù)人員，可以為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。

ATR 21274369/KM11G

定義：入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密－疏媒質(zhì)的界上全反射時，光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。

利用光學(xué)中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。

應(yīng)用：ATR在實際應(yīng)用中，作為紅外光譜法的重要實驗方法之一，從一開始便顯示出其特的優(yōu)勢和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號，而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡化了樣品的制作過程，而且極大地擴(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能。因此，被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。

ATR 21274369/KM11G