菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測(cè)厚儀

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測(cè)厚儀

德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀介紹：

1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。

2、頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。

3、能通過(guò)“應(yīng)用工具箱"(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤(pán)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化。

4、畫(huà)中畫(huà)測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測(cè)量的距離，見(jiàn)背面）

5、圖形化的用戶界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中

6、對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺(jué)控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)

菲希爾手持式熒光射線測(cè)厚儀XAN500

菲希爾熒光射線測(cè)厚儀特點(diǎn)

通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)

測(cè)量點(diǎn)：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測(cè)器

用于戶外的IP54等級(jí)

用作臺(tái)式設(shè)備的可選測(cè)量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)