司特爾Discotom-100手自一體金相切割機 參考價：面議
司特爾Discotom-100手自一體金相切割機擁有大的切割臺和切割室。切割臺尺寸為620 x 270mm，幾乎是同類機型切割臺的兩倍大小。用戶可以夾緊和切割所...
徠卡三離子束切割儀Leica TIC 3X 參考價：面議
徠卡三離子束切割儀Leica TIC 3X可選配：液氮制冷冷臺-150℃至30℃，25L液氮罐及自動泵，具有自動快速制冷功能。
徠卡離子減簿儀 Leica EM RES102 參考價：面議
使用徠卡 徠卡離子減簿儀 Leica EM RES102，使您的樣品具備高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作...
徠卡精研一體機 Leica EM TXP 參考價：面議
徠卡精研一體機 Leica EM TXP具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab 參考價：面議
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現(xiàn)從微米到納米微加工的成像加工系統(tǒng)。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM) 參考價：面議
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能...
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電...
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， ...
蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分...
舜宇BHP偏光顯微鏡 參考價：面議
普及型舜宇BHP偏光顯微鏡，配置消應力專業(yè)偏光平場物鏡，廣泛應用于偏振光對各種礦物標本及其試樣薄片進行成分分析與鑒定。
舜宇SZN連續(xù)變倍體視顯微鏡 參考價：面議
舜宇SZN連續(xù)變倍體視顯微鏡緊湊舒適的外觀設計，清晰銳利的立體圖像，靈活多樣的部件組合，廣泛應用于現(xiàn)代生物、醫(yī)學、科研、現(xiàn)代電子工業(yè)在線檢測和其他科技工業(yè)領(lǐng)域等...
徠卡高級立體顯微鏡M50、M60、M80 參考價：面議
徠卡高級立體顯微鏡M50、M60、M80專為在實驗室或制造業(yè)工作的操作者設計，為他們提供量身定制的解決方案。
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價：面議
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺，冷臺傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺溫度≤180℃。
SEM熱電芯片臺 參考價：面議
SEM熱電芯片臺可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)可以實現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。
PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案...
掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng) 參考價：面議
掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量，并可在電學...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量，并可在...
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量，并可...
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