SLP-2000應(yīng)力儀_中國(guó)市場(chǎng)總代理SLP-2000應(yīng)力儀推薦供應(yīng)商（含微晶玻璃軟件）可應(yīng)對(duì)二強(qiáng)玻璃，微晶玻璃，鋰鋁硅玻璃等行業(yè)用戶(hù)研發(fā)的新品,SLP-2000工作原理是利用雙折射來(lái)改變極化激光束的延遲，并且散亂光的強(qiáng)度 隨著激光束的延遲的變化而改變.華南超瓷晶玻璃應(yīng)力測(cè)試儀SLP-2000總代理
華南超瓷晶玻璃應(yīng)力測(cè)試儀SLP-2000可應(yīng)對(duì)二強(qiáng)玻璃，微晶玻璃，鋰鋁硅玻璃等行業(yè)用戶(hù)研發(fā)的新品,SLP-2000工作原理是利用雙折射來(lái)改變極化激光束的延遲，并且散亂光的強(qiáng)度 隨著激光束的延遲的變化而改變，通過(guò)偏振光光路上因激光束的延遲而出現(xiàn)的 光程差和偏振特性來(lái)計(jì)算表面壓應(yīng)力和壓應(yīng)力層厚度。全自動(dòng)散亂光應(yīng)力儀為用于測(cè)量化學(xué)強(qiáng)化和物理強(qiáng)化玻璃的內(nèi)應(yīng)力。特點(diǎn) 在于采用無(wú)損檢測(cè)方式，使用操作方便，既縮短了測(cè)量所需時(shí)間，又對(duì)玻璃生 產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行及時(shí)監(jiān)控，能很好的分析化學(xué)鋼化玻璃的內(nèi)應(yīng)力分布情況，進(jìn)而判 斷產(chǎn)品的鋼化程度。
二 ·產(chǎn)品相關(guān)技術(shù)參數(shù)要求：
1. 測(cè)定對(duì)象 ：化學(xué)強(qiáng)化玻璃、化學(xué)二次強(qiáng)化玻璃、微晶玻璃、鋰鋁硅玻璃等
2. 測(cè)定形狀 ：平面- 1000R 10*10mm 以上
3. 測(cè)定范圍 ：應(yīng)力值 0-2000Mpa 、 應(yīng)力層高層度 10-600 μm
4. 測(cè)定分辨能力：應(yīng)力 5Mpa 高層度 5 μm
5. 測(cè)定精度 ：從表面算起 50μm 之后 應(yīng)力值±10MPa 高層度±10 μm (以標(biāo) 準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6. 光源 ：LD 518nm 30mW Glass3B 棱鏡： S-LAL- 10 ND=1.518
7. PC： (Windows 10、測(cè)量軟件已安裝)
8. 電源： AC220V±5V
9. 尺寸： 300×600×200mm
10. 重量：約 16kg
三 ·產(chǎn)品其他配置要求
1. DELL 主機(jī)；
2. CPU：inter core i3及以上；
3. 系統(tǒng)及軟件；
4. Windows 10 professional edition 64bit；
5. SLP 分析、計(jì)算軟件；
6. PMC 擬合軟件；
7.包含主板、視頻/音頻、網(wǎng)卡、顯示器、操作系統(tǒng)、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)等配件。
四 ·產(chǎn)品其他類(lèi)要求
1. 電腦自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，輸出 excel 文檔。
2. 至少使用 518nm，及其以下的光源，使用壽命長(zhǎng)，達(dá)到 10,000 小時(shí) 。
3. 配備玻璃校準(zhǔn)片 可將機(jī)器 CS-30、DOL-0、CT-CV 等參數(shù)誤差控制到較小， 同一樣品測(cè) 試 9 次，極差 CS-30＜15MPa、DOL-0＜5μm、CT-CV＜5MPa、CT-LD 小于2000MPa/mm、
4 . 除了連續(xù)測(cè)量，也可以自由選擇單次測(cè)量、手動(dòng)測(cè)量等測(cè)量方式。
5 . 測(cè)定精度:從表面算起50μm之后應(yīng)力值±10MPa深度±10μm(以標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6 . 有詳細(xì)的儀器操作指導(dǎo)書(shū)，包括如何測(cè)試樣品、如何調(diào)整測(cè)試偏差，如何解決儀器日常 BUG，有技術(shù)人員直接聯(lián)系對(duì)接
7 . 針對(duì)不同類(lèi)型樣品，軟件可以單獨(dú)進(jìn)行分案并且進(jìn)行參數(shù)匹配。當(dāng)測(cè)該類(lèi)型樣品時(shí)，直接打開(kāi)該分案即可，不用再頻繁調(diào)試參數(shù)。
8. 滿(mǎn)足我方高結(jié)晶度樣品測(cè)試，不會(huì)因?yàn)榻Y(jié)晶關(guān)系導(dǎo)致測(cè)試界面曝光度過(guò)大，導(dǎo)致無(wú)法測(cè)試
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