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日立鍍層測(cè)厚儀
X-Strata920 是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析?？蓱?yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
日立鍍層測(cè)厚儀
X-Strata920 是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。X-Strata920 可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。
主要特點(diǎn)包括：
? 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析
? 可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 種元素的鍍層厚度測(cè)試，自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線
? 多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素周期表上從鈦（22 號(hào)）到鈾（92號(hào)）各元素
使用能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術(shù), X-Strata920 可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求：
? 符合 ISO3497 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層—X 射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
? 符合 ASTM B568 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X 射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
? 至多同時(shí)分析 25 種元素
日立鍍層測(cè)厚儀
井深式、開槽式樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)
? “井深式”樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)，可以測(cè)量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ，可測(cè)量樣品高度不超過(guò) 160mm (6.3”)。樣品臺(tái)支架可放置在“深井”中的 4 個(gè)位置的卡槽上，使得不同樣品都可以方便地測(cè)量。
? 樣品臺(tái)支架放置在標(biāo)準(zhǔn)位置時(shí)，就是“開槽式樣品倉(cāng)”，可以測(cè)量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測(cè)點(diǎn)。
? Z 軸自動(dòng)控制（Z 向行程：43mm/1.7”）
? 樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 寬 x 深 D)
簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固、耐用的設(shè)計(jì)
? 經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證、堅(jiān)固、耐用的設(shè)計(jì)，可在大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
? 空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺(tái)空間，也可近產(chǎn)線放置。
? 計(jì)算機(jī)提供 USB 和網(wǎng)絡(luò)接口用于連接打印機(jī)、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。