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適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹
閱讀：605 發(fā)布時間：2024-11-13適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹
光學(xué)分辨率1.8μm/速度檢測！
用于基材和金屬表面的缺陷檢查！
概述
這是使用高分辨率相機(jī)和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
光學(xué)分辨率為1.8μm，可實(shí)現(xiàn)高清檢查。
它還可以處理尺寸測量，還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。
特征
自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素?cái)?shù)：900萬像素
高光學(xué)分辨率（1.8μm）讓您可以清晰地看到精細(xì)的檢查點(diǎn)。
非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。
目的
用于檢查觸摸面板、異物等缺陷！
觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃痕及異物檢查
電路板缺陷檢查
系統(tǒng)配置
