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詳細(xì)摘要：MiniTest735涂層測(cè)厚儀
MiniTest 735 F 05
鐵基涂層，0...500 µm, HD防護(hù)探頭可選
MiniTest 735 F 05M-0
鐵基涂層，0...500 µm，微型直探頭
MiniTest 735 F 05M-45
鐵基涂層，0...500 µm，微型45度探頭
Mi

詳細(xì)摘要：MiniTest725涂層測(cè)厚儀
MiniTest 725 F 1.5
鐵基涂層，0...1500 µm
MiniTest 725 F5
鐵基涂層，0...5000 µm
MiniTest 725 F15
鐵基涂層，0...15 mm
MiniTest 725 N 07
非鐵基涂層，0...700 µm
M

詳細(xì)摘要：CT320涂層測(cè)厚儀IPRECT320涂層測(cè)厚儀
IPRECT320涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
2、分體（傳感器與儀器之間通過(guò)引線連接）、

詳細(xì)摘要：CT210涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
2、分體（傳感器與儀器之間通過(guò)引線連接）、兩用（F型N型合一）；

詳細(xì)摘要：PHB-1錘擊式布氏硬度計(jì)
PHB-1錘擊式布氏硬度計(jì)按照布氏硬度試驗(yàn)的基本原理設(shè)計(jì)，利用剪銷精確控制試驗(yàn)力，在試樣上壓出壓痕后，利用讀數(shù)顯微鏡讀出壓痕直徑，經(jīng)查表即可得到準(zhǔn)確的布氏硬度值。

詳細(xì)摘要：PHB-150剪銷式布氏硬度計(jì)
PHB-150剪銷式布氏硬度計(jì)按照布氏硬度試驗(yàn)的基本原理設(shè)計(jì)，利用剪銷精確控制試驗(yàn)力，在試樣上壓出壓痕后，利用讀數(shù)顯微鏡讀出壓痕直徑，經(jīng)查表即可得到準(zhǔn)確的布氏硬度值。

詳細(xì)摘要：HDG3102B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3102B 2CH 100MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3062B 2CH 60MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3082B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3062B 2CH 60MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3082B 2CH 80MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3062B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3062B 2CH 60MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3082B 2CH 80MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3042B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3042B 2CH 40MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3062B 2CH 60MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3022B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3012B 2CH 15MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3022B 2CH 25MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3012B函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3012B 2CH 15MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device
HDG3022B 2CH 25MHz 300MSa/s 16Bits 2Mpts USB Host，USB Device

詳細(xì)摘要：HDG3103C函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3103C3CH100MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3063C3CH60MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3083C3CH80MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB

詳細(xì)摘要：HDG3083C函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3043C3CH40MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3063C3CH60MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3083C3CH80MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB

詳細(xì)摘要：HDG3063C函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3043C3CH40MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3063C3CH60MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3083C3CH80MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB

詳細(xì)摘要：HDG3043C函數(shù)/任意信號(hào)發(fā)生器
HDG3043C3CH40MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3063C3CH60MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB Device
HDG3083C3CH80MHz300MSa/s16Bits2MptsUSB Host，USB

詳細(xì)摘要：PDR302接地電阻測(cè)試儀
模擬指針式 | 日本三和（sanwa）
日本三和（sanwa）■ 模擬指針式，顯示 0-30V,10 100 1000Ω■ 相位檢測(cè)系統(tǒng)電路，用于穩(wěn)定測(cè)量■ 顯示電路采用位相檢波方式，不受外部噪音影響，可進(jìn)行高精度檢測(cè)■ 方便的自我校

詳細(xì)摘要：PDR4000接地電阻測(cè)試儀
數(shù)字式 | 日本三和（sanwa）
日本三和（sanwa）■ PDR4000接地電阻測(cè)試儀,可進(jìn)行A種到D種接地電阻測(cè)量■ 接地電阻的測(cè)量方式有2電極法和3電極法兩種可選 ■ 自動(dòng)關(guān)機(jī)功能便于節(jié)省電池消耗
■ 三個(gè)測(cè)量范圍：40Ω，40

詳細(xì)摘要：三和(sanwa)MG500絕緣電阻測(cè)試儀
電壓3量程切換 | 日本三和（sanwa）
日本三和(sanwa)MG500絕緣電阻測(cè)試儀，精良的設(shè)計(jì)，*的手感，讓您更安全地測(cè)量絕緣電阻。廣泛用于測(cè)量發(fā)電機(jī)、馬達(dá)、電源變壓器、配線、電器和其它電氣裝置的絕緣電阻。顯示數(shù)

詳細(xì)摘要：MG1000絕緣電阻測(cè)試儀
絕緣電阻測(cè)試儀
電壓3量程切換 | 日本三和（sanwa）
日本三和（sanwa）MG1000絕緣電阻測(cè)試儀，精良的設(shè)計(jì)，*的手感，讓您更安全地測(cè)量絕緣電阻。廣泛用于測(cè)量發(fā)電機(jī)、馬達(dá)、電源變壓器、配線、電器和其它電氣裝置的絕