供應(yīng)
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紫外線防護(hù)面罩UVC-803 美國(guó)UVP公司 詳細(xì)摘要:UVC-803紫外線防護(hù)面罩 美國(guó)UVP公司
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言
UVC-803紫外線防護(hù)面罩覆蓋臉部和頸部,有效的阻止了紫外線的輻射,符合ANSI-Z87.1 1986標(biāo)準(zhǔn)。
眼睛和面部防護(hù)是紫外線工作人員*的設(shè)備。 -
HS6288B型噪聲頻譜分析儀 詳細(xì)摘要:HS6288B型噪聲頻譜分析儀
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一. 應(yīng)用范圍及特點(diǎn):京海興樂科技(北京)有限公司提供儀器維修,產(chǎn)品計(jì)量,技術(shù)培訓(xùn),產(chǎn)品配件,儀器說明書。主要性能符合《JJG188—2002聲級(jí)計(jì)檢定規(guī)程》和IEC61672標(biāo)準(zhǔn)對(duì)2級(jí)聲級(jí)計(jì)要求。HS6288B型噪聲頻譜分析儀是一種袖珍 -
ND10型聲級(jí)測(cè)試儀 詳細(xì)摘要:ND10型聲級(jí)測(cè)試儀
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符合電工委員會(huì)(IEC)651號(hào)聲級(jí)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)作為一般用途的Ⅱ型聲級(jí)計(jì)的要求,也符合GB3785標(biāo)準(zhǔn)的要求。儀器性能穩(wěn)定,使用簡(jiǎn)單,價(jià)格低廉,攜帶方便。 -
HS5633型噪聲監(jiān)測(cè)儀 詳細(xì)摘要:HS5633型噪聲監(jiān)測(cè)儀
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一. 應(yīng)用范圍及特點(diǎn):
京海興樂科技(北京)有限公司提供儀器維修,產(chǎn)品計(jì)量,技術(shù)培訓(xùn),產(chǎn)品配件,儀器說明書。
儀器性能符合《JJG188—2002聲級(jí)計(jì)檢定規(guī)程》和IEC61627《聲級(jí)計(jì)》標(biāo)準(zhǔn)對(duì)2級(jí)要求。HS5633型噪聲監(jiān)測(cè)儀是一 -
HS5633B型通用聲級(jí)計(jì) 詳細(xì)摘要:HS5633B型通用聲級(jí)計(jì)
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一. 應(yīng)用范圍及特點(diǎn):京海興樂科技(北京)有限公司提供儀器維修,產(chǎn)品計(jì)量,技術(shù)培訓(xùn),產(chǎn)品配件,儀器說明書。HS5633B通用聲級(jí)計(jì)是按聲級(jí)計(jì)新標(biāo)準(zhǔn)要求創(chuàng)新研制而成,設(shè)有 A、C頻率計(jì)權(quán)網(wǎng)絡(luò)、大值保持、高低量程、過載與欠量數(shù)顯指 -
HS5618B型個(gè)人聲暴露計(jì) 詳細(xì)摘要:HS5618B型個(gè)人聲暴露計(jì)
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應(yīng)用范圍及特點(diǎn):
HS5618B型個(gè)人聲暴露計(jì)適用于各種環(huán)境噪聲與機(jī)器噪聲的監(jiān)測(cè),尤其適合工業(yè)衛(wèi)生噪聲評(píng)價(jià)、職業(yè)工人聽力保護(hù)等噪聲測(cè)量分析。 -
HS5944型振動(dòng)檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要:HS5944型振動(dòng)檢測(cè)儀
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一、 應(yīng)用范圍及特點(diǎn):
HS5944型振動(dòng)檢測(cè)儀是一種數(shù)字化、袖珍式機(jī)械振動(dòng)測(cè)量?jī)x器,能方便地測(cè)得振動(dòng)加速度、速度、位移等振動(dòng)參數(shù)。 -
HS5936型振動(dòng)測(cè)試儀 詳細(xì)摘要:HS5936型振動(dòng)測(cè)試儀
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一. 應(yīng)用范圍及特點(diǎn) :
HS5936 型振動(dòng)測(cè)試儀是一種數(shù)字化、袖珍式振動(dòng)測(cè)量?jī)x器, 可以直接測(cè)量振動(dòng)加速度、振動(dòng)烈度 (速度) 、手傳振動(dòng)頻率計(jì)權(quán)加速度值,測(cè)量范圍寬,有大值保持功能,提供交、直流輸出,供其它分析測(cè)試儀器作 -
AG500漏檢儀檢漏儀 詳細(xì)摘要:AG500漏檢儀檢漏儀
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商品詳細(xì)介紹: 漏檢儀也叫檢漏儀,UltraPro AG500是一款應(yīng)用于工業(yè),維護(hù)和制造業(yè)的強(qiáng)效的超聲滲漏探測(cè)器和電子聽筒,用以檢查并診斷不論發(fā)生在何處的細(xì)微滲漏。 -
磚數(shù)顯回彈儀HT-75D 詳細(xì)摘要:磚數(shù)顯回彈儀HT-75D
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采用*的一體式設(shè)計(jì),體積小巧,操作更簡(jiǎn)便。
●高清晰度OLED顯示屏
●光電傳感,非接觸測(cè)量 -
砂漿數(shù)顯回彈儀HT-20D 詳細(xì)摘要:砂漿數(shù)顯回彈儀HT-20D
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●采用*的一體式設(shè)計(jì),體積小巧,操作更簡(jiǎn)便。
●高清晰度OLED顯示屏
●光電傳感,非接觸測(cè)量 -
高強(qiáng)混凝土回彈儀HT-1000D 詳細(xì)摘要:高強(qiáng)混凝土回彈儀HT-1000D
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言
●采用*的一體式設(shè)計(jì),體積小巧,操作更簡(jiǎn)便。
●高清晰度OLED顯示屏
●回彈值與強(qiáng)度值實(shí)時(shí)顯示
●數(shù)字和模擬標(biāo)尺讀數(shù)雙顯示
●多種強(qiáng)度單位:MPa、N/m㎡、Kgf/ m㎡ -
混凝土數(shù)顯回彈儀HT-225D 詳細(xì)摘要:混凝土數(shù)顯回彈儀HT-225D
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商品詳細(xì)介紹: ●采用*的一體式設(shè)計(jì),體積小巧,操作更簡(jiǎn)便。●高清晰度OLED顯示屏●光電傳感,非接觸測(cè)量●數(shù)字和模擬標(biāo)尺讀數(shù)雙顯示●回彈值和強(qiáng)度值實(shí)時(shí)顯示●高精度:0.1個(gè)回彈值●非接觸光電傳感●多種強(qiáng)度單位 -
DR81透光率儀(又名透光儀,透光率計(jì),透光率測(cè)試儀,透光率檢測(cè)儀) 詳細(xì)摘要:DR81透光率儀(又名透光儀,透光率計(jì),透光率測(cè)試儀,透光率檢測(cè)儀)
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A、測(cè)量范圍:0.0—99.9%
B、測(cè)量數(shù)量:%光束透射
C、測(cè)量物體厚不能超過:18mm
D、測(cè)量物體面積不能小于:10mm*10mm -
DR120涂層測(cè)厚儀(升級(jí)版) 詳細(xì)摘要:DR120涂層測(cè)厚儀(升級(jí)版)
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A、測(cè)量范圍:0-1500μm
B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用
C、薄基體:0.4mm
D、測(cè)量精度:±(3%H+1.5μm) -
DR130涂層測(cè)厚儀/汽車漆膜儀 詳細(xì)摘要:DR130涂層測(cè)厚儀/汽車漆膜儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言
A、測(cè)量范圍:0-1500μm
B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用
C、薄基體:0.4mm
D、測(cè)量精度:±(3%H+1.5μm)
E、分辨率:0.1μm /1μm -
DR270渦流涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:DR270渦流涂層測(cè)厚儀
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A、測(cè)量范圍:0-1250/3000μm(超過1250μm要提前告知廠家另行定制)
B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用
C、薄基體:0.4mm -
DR260磁性涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:DR260磁性涂層測(cè)厚儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言
A、測(cè)量范圍:0-1250/3000μm(超過1250μm要提前告知廠家另行定制)
B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用
C、薄基體:0.4mm -
DR280兩用涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:DR280兩用涂層測(cè)厚儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言
A、測(cè)量范圍:0-1250/3000μm(超過1250μm要提前告知廠家另行定制)
B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用
C、薄基體:0.4mm -
DR230涂層測(cè)厚儀(鐵鋁兩用) 詳細(xì)摘要:DR230涂層測(cè)厚儀(鐵鋁兩用)
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DR230涂層測(cè)厚儀是一款一體式兩用測(cè)厚儀,按照國(guó)家行業(yè):JJG818-2005標(biāo)準(zhǔn)專業(yè)測(cè)量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業(yè)無損檢測(cè)儀器,使用簡(jiǎn)單,攜帶便捷,重復(fù)性更好,性能猶佳。它根據(jù)金屬基體不同使用以下不同的測(cè)量方