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SW-6530 超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

SW-6530 超聲波測(cè)厚儀

超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

項(xiàng)目

顯示方式測(cè)量范圍

主要功能分辨率0.1mm/0.01mm/0.01in三種分辨率

±(0.5%H±0.04)mm:H為被測(cè)物實(shí)際厚度

4500組

電源

1800mA鋰電池直充

公制mm/英制in-30~70℃≤90%RH

-20~50℃≤90%RH

206*80*36.5mm