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方塊電阻測(cè)試儀 電阻測(cè)試儀 型號(hào)：SRM-232-100
SRM-232-100型方塊電阻測(cè)試儀是手持式方塊電阻測(cè)試儀,專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的新型儀器可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜）……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀  型號(hào)：SRM-232-100 
SRM-232-100型方塊電阻測(cè)試儀是手持式方塊電阻測(cè)試儀,專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 
◆ 特點(diǎn)：  
1 輕便手持式設(shè)計(jì) 
2 127個(gè)數(shù)據(jù)測(cè)試點(diǎn)保存 
3 通過(guò)RS-232與電腦通訊 

◆ 技術(shù)指標(biāo)： 

SRM-232-10 測(cè)量范圍： 0.000～9.999(Ω/□) 
 分辨率：0.004(Ω/□) 
SRM-232-100  測(cè)量范圍：00.00～95.00(Ω/□) 
 分辨率：0.04(Ω/□) 
SRM-232-1000  測(cè)量范圍0～1000(Ω/□) 
 分辨率：0.4(Ω/□) 
SRM-232-2000  測(cè)量范圍：0～2000(Ω/□) 
 分辨率：0.8(Ω/□)