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方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào)： ST-21
是一種依照類(lèi)似的標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測(cè)試儀  型號(hào)： ST-21 
方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。 
◆ 特點(diǎn)： 
  
1 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定，低功耗； 
2 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰； 
3 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示； 
4 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜  
6 探頭帶抗靜電模塊 
◆ 技術(shù)指標(biāo)： 
測(cè)量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔： 
  1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 
  2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； 
恒流源 測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8% 
模數(shù)轉(zhuǎn)換器 量程：0～199.99mv； 
 分辨率：10μv； 
 方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示； 
測(cè)量不確定度 在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5% 
四探針探頭規(guī)格 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ 
電源 9V疊層電池1節(jié)