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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-09-01 15:24:31瀏覽次數：1438
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| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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將您的CMM檢查時間多增加三倍！
Renishaw的新PH20測座使用快速、無限、旋轉定位和*的“頭部接觸”功能，在CMM移動小的情況下，可將觸摸觸發(fā)檢查吞吐量提高三倍。
PH20五軸觸控觸發(fā)系統
PH20*的“頭部接觸”允許只移動頭部而不是CMM結構來獲取測量點。僅使用頭部的快速旋轉運動，可以更快地獲取點，并提高精度和可重復性。此外，五軸運動消除了花在分度頭上的時間。與傳統探測系統相比，這些速度的增加通常會使吞吐量提高3倍。
新的PH20測座設計用于工業(yè)標準TP20觸摸觸發(fā)探頭，通過優(yōu)化測量平臺的工作體積，*將五軸檢測能力引入更小的CMM。PH20可用于新的CMM，以及使用柄或套筒安裝的改裝機器。它可以使用現有的大多數檢查程序，無需修改，也不需要壓縮空氣。
方便從任何角度訪問功能
PH20的無限定位能力保證了**的功能訪問，大限度地減少了觸針的變化。5軸同步運動允許在CMM上測量較大的零件，方法是將零件周圍旋轉所需的空間小化。PH20自動與零件坐標系對齊，避免觸針碰撞和對準確夾具的要求。
更快的校準
針對ph20開發(fā)的*“推斷校準”技術確定了單次操作中的頭部方向和探頭位置，允許在任何頭部角度下進行后續(xù)測量。其他模塊在使用前只需要在校準球體上進行一些接觸。（如果需要，可通過在特征方向校準探針頭來提高計量性能。）隨著定期重復校準過程以符合質量程序或在探針碰撞之后，這些顯著的時間節(jié)省會累積起來。
