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Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀具有*的頻率等級(jí)270khz在+ / - 100V的內(nèi)置系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜和塊體陶瓷快速而簡(jiǎn)單的測(cè)試。
詳細(xì)介紹
Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀
Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀具有頻率等級(jí)270khz在+ / - 100V的內(nèi)置系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜和塊體陶瓷快速而簡(jiǎn)單的測(cè)試。
Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀無(wú)需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV和IC的測(cè)試。配備額外的模塊，可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。
Multiferroic II提供了多種內(nèi)部放大器，±100V/200V/500v內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓的可供選擇。可外置擴(kuò)展10KV的高壓接口和一個(gè)放大器。系統(tǒng)包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理系統(tǒng)軟件。
